[发明专利]一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置在审
申请号: | 202010162318.5 | 申请日: | 2020-03-10 |
公开(公告)号: | CN111272810A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 陈剑洪;陈余良;杨美玉;庄子哲;刘跃军;钟海长;郑伟 | 申请(专利权)人: | 厦门理工学院 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 泉州劲翔专利事务所(普通合伙) 35216 | 代理人: | 许珠珍 |
地址: | 361000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辐射 制冷 薄膜 性能 测试 装置 | ||
本发明涉及辐射制冷技术领域,尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置,所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口,所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管,所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内,所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面,所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单,构造巧妙,制作成本低,密封性良好,可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试,降低测试成本,提高测试准确性。
技术领域
本发明涉及辐射制冷技术领域,尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置。
背景技术
随着全球变暖现象越来越显著,人们需要在制冷领域投入更多的能源才能达到预期的冷却效果,这一方面加剧了能源危机,另一方面由于制冷空调的大面积使用而产生的更多氟利昂排放,也会导致人们的生存环境进一步恶化。在这一背景下,减少能耗或研发新的制冷降温的方法和技术,是迫在眉睫的任务。此时辐射制冷作为一种零能耗,安全高效清洁的制冷技术,表现出了实际的应用价值。
辐射制冷是物体将自身热量以红外发射的途径通过大气窗口辐射到外太空这一巨大冷源来达到自身降温的被动冷却方式。对大气层而言,不同波段的电磁波有着不一样的透过率,所谓的“大气窗口”便是其中透过率较高的波段,例如0.3-2.5μm、3.2-4.8μm、8-13μm就是这样的“大气窗口”。在众多波段之中,8-13μm的波段是最引人关注的一段波段,原因是在常温下的黑体辐射主要就是集中在这一波段。
很长一段时间,辐射制冷的实验主要在夜晚进行,这是由于辐射体在白天会大量吸收太阳的辐照能量而使自身的温度不断上升,从而使辐射制冷的效果无法显现。直到最近,科学家们才研发出了多种可以实现日间辐射制冷的材料器件,这些材料器件普遍具有的特点是材料表面对太阳辐射(波长在0.3-2.5微米之间)有较高的反射率,同时对透明大气窗口谱段(8-13微米)具有较高的红外发射率。其中特别值得一提的是2017年美国科罗拉多大学的科研团队研制的一种高分子辐射制冷薄膜,通过在高分子-制冷微球复合薄膜表面镀银或镀铝,实现辐射制冷。该高分子辐射制冷薄膜成本低廉,工艺简单,符合工业生产的技术要求,此外,柔性较好,可适应不同曲率的表面,有广泛的运用场景。目前科学家已对该类材料器件进行了一系列的测试,但所进行的测试通常需要先对高分子复合薄膜一侧表面先进行镀银或镀铝,测试的成本较高。
本发明的目的是为了克服现有技术的不足,提供一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试,降低测试成本。
发明内容
本发明的目的在于克服上述不足,提供一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试,降低测试成本。
为实现上述目的,本发明的技术解决方案是:一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置,所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口,所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管,所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内,保证测温装置的热电偶感温端在金属罐体内所处的位置固定,从而保证每次测试的可比性,所述金属罐体外依次贴附有中间层、制冷膜,所述中间层为银膜或铝箔,所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面,增加金属罐体的弧面张力,使得制冷膜和中间层更能紧密贴附于金属罐体上,从而使得热量传导更加顺畅,提高测试结果的准确性,所述金属罐体的底部为平面,保证测试时的稳定性,避免金属罐体晃动滚动。
优选的,所述盖体包括盖面、与盖面固定连接的延伸部,所述延伸部上设置有环形凹槽,所述环形凹槽内设置有密封环,起到密封和固定盖体的作用。
优选的,所述导管与盖体连为一体。
优选的,所述金属罐体、盖体和导管均由钢合金材质制成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门理工学院,未经厦门理工学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010162318.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。