[发明专利]一种太赫兹探测阵列校准系统及方法

权利要求书

1.一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于：包括校准组件、旋转驱动组件和导电组件，所述校准组件包括常温辐射板与高温辐射板，所述常温辐射板与所述高温辐射板尺寸相同正对设置，所述常温辐射板与所述高温辐射板的两端均对应连接，所述旋转驱动组件与所述常温辐射板、所述高温辐射板的一端连接，所述导电组件与所述常温辐射板、所述高温辐射板的另一端连接，太赫兹探测阵列设置在所述校准组件的一侧，外界太赫兹波由所述校准组件的另一侧向太赫兹探测阵列方向发射。

2.根据权利要求1所述的一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于：所述常温辐射板与所述高温辐射板的两端均设置有转动轴，所述旋转驱动组件与设置在一端的所述转动轴连接，所述导电组件与设置在另一端的所述转动轴连接。

3.根据权利要求1或2所述的一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于：所述旋转驱动组件为电机，所述导电组件为汇流环。

4.根据权利要求1所述的一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于：所述常温辐射板的表面贴附有太赫兹波段的吸波材料层，所述高温辐射板的表面贴附有电阻丝与太赫兹波段的吸波材料层。

5.根据权利要求4所述的一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于：所述导电组件与外部电源连接，向所述电阻丝输送电能。

6.根据权利要求1所述的一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于：所述常温辐射板与所述高温辐射板之间的间距大于太赫兹探测阵列的天线波束宽度。

7.根据权利要求1所述的一种太赫兹探测阵列校准系统，其特征在于，太赫兹探测阵列包括N个探测单元，形成N个探测通道，在相同的输入功率x下，其输出响应可以表达为：y_n＝k_nx+b_n，其中y_n是第n个探测单元的输出，k_n是第n个探测单元的响应系数，b_n是第n个探测单元的信号本底。

8.一种太赫兹探测阵列校准方法，其特征在于，利用如权利要求1～7任一所述的校准系统进行太赫兹探测阵列的校准工作，包括以下步骤：

S1：将常温辐射板与高温辐射板之间的间隙正对太赫兹探测阵列，为校准组件的初始位置，与水平面夹角为0°，太赫兹探测阵列正常接收外界太赫兹波；

S2：将校准组件逆时针以转动轴为轴心逆时针旋转至与水平面夹角为90°，此时太赫兹探测阵列被常温辐射板遮挡，各个探测通道采集由常温辐射板辐射出的太赫兹信号，记为C_n；

S3：将校准组件逆时针以转动轴为轴心逆时针旋转至与水平面夹角为180°，此时常温辐射板与高温辐射板之间的间隙正对太赫兹探测阵列，太赫兹探测阵列正常接收外界太赫兹波；

S4：将校准组件逆时针以转动轴为轴心逆时针旋转至与水平面夹角为270°，此时太赫兹探测阵列被高温辐射板遮挡，各个探测通道由采集高温辐射板辐射出的太赫兹信号，记为H_n；

S5：采集到C_n和H_n后，利用变换公式Y_n＝(y_n-C_n)/(H_n-C_n)将每个探测通道的输出y_n校准至Y_n；常温辐射板和高温辐射板在旋转驱动组件的带动下连续转动，不断重复步骤S1～S4的过程，在步骤S2和S4中的两个位置不断更新C_n和H_n，实时对太赫兹探测阵列进行校准，在步骤S1和S3中的两个位置进行太赫兹波探测。