[发明专利]放射线摄像装置有效
申请号: | 202010163807.2 | 申请日: | 2020-03-10 |
公开(公告)号: | CN112137640B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 小野内雅文;石津崇章;渡边史人 | 申请(专利权)人: | 富士胶片医疗健康株式会社 |
主分类号: | A61B6/06 | 分类号: | A61B6/06;A61B6/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;金成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 摄像 装置 | ||
本发明提供一种放射线摄像装置,其使具有检测放射线的光子的半导体层和抑制散射线的入射的准直器的光子计数型放射线检测器变得小型化,而且能够确保耐压。该放射线摄像装置包括放射放射线的放射线源、用于检测放射线的光子的放射线检测器、支撑放射线源和放射线检测器面对设置的支撑部,放射线检测器由多个检测元件模块排列成圆弧状而构成,检测元件模块具有被固定到支撑部的基座、吸收光子而输出电荷的半导体层、向半导体层供给高电压的高压布线、抑制入射到半导体层的散射线的准直器、支撑准直器并将其固定于基座的一组支柱,支柱设置在距半导体层的预定距离内,并具有插入高压布线的凹槽部。
技术领域
本发明涉及搭载有光子计数型检测器的放射线摄像装置,尤其涉及用于除去散射线的准直器的支撑结构。
背景技术
近年来,各种机构都在进行搭载了采用光子计数方式的检测器(光子计数型检测器)的光子计数检测器(CT:Computed Tomography)装置的开发。光子计数型检测器与传统的CT设备中使用的电荷积分型的检测器不同,它能够个别地计数入射在作为检测元件的半导体层上的放射线光子,因此可以测量各光子的能量。因此,光子计数CT装置相比于传统的CT装置,能够得到更多的信息。
由CT装置作为代表的放射线摄像装置中,为了抑制被摄体等中产生的散射线入射到检测器中,作为由钨、钼、钽等重金属板形成的狭缝或栅格的准直器设置在被摄体和检测器之间。然而,当准直器和检测器的检测元件的对齐精度不充分时,由CT装置生成的断层图像中产生被称为虚像的伪影。
在专利文献1中,支撑多个准直器板的所有的一组准直器轨道中安装多个检测器模块,并从固定在一个准直器轨道上的高压条通过高压线等向每个检测器模块供给高压。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2007-144184号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是,在专利文献1中,包括准直器在内的检测器模块的小型化有时很困难。即,如果为了使检测器模块小型化而缩短支撑多个准直器的所有的准直器轨道之间的距离,则高压条和检测器模块之间的距离也变短,有时无法保持耐压。
因此,本发明的目的在于提供使具有检测放射线的光子的半导体层和抑制散射线入射的准直器的光子计数型放射线检测器小型化的同时,能够确保耐压的放射线摄像装置。
用于解决客体的方案
为了达到上述目的,本发明所提供的放射线摄像装置,包括放射放射线的放射线源、用于检测上述放射线的光子的放射线检测器、以使上述放射线源和上述放射线检测器对置的方式进行支撑的支撑部,上述放射线检测器由多个检测元件模块排列成圆弧状而构成,上述检测元件模块具有固定到上述支撑部的基座、吸收上述光子而输出电荷的半导体层、向上述半导体层供给高电压的高压布线、抑制入射到上述半导体层的散射线的准直器、支撑上述准直器并将其固定于上述基座的一组支柱,上述支柱设置在距上述半导体层的预定距离内,并具有插入上述高压布线的凹槽部。
发明效果
根据本发明,能够提供一种放射线摄像装置,该放射线摄像装置使具有检测放射线的光子的半导体层和抑制散射线的入射的准直器的光子计数型放射线检测器变得小型化,而且能够确保耐压。
附图说明
图1是示出应用本发明的X射线CT装置的整体构成的图。
图2是示出根据第一实施方式的检测元件模块的侧面和上面的图。
图3是构成第一实施方式的检测元件模块的各部分的立体图。
图4是根据第一实施方式的检测元件模块的A-A剖视图。
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