[发明专利]基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置

权利要求书

1.一种基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，包括：分布式X光源阵列单元(1)、X光探测器阵列部件(2)以及准直器部件(3)；

所述X光探测器阵列部件(2)和准直器部件(3)设置于分布式X光源阵列单元(1)内侧；

所述X光探测器阵列部件(2)设置于与准直器部件(3)相对的位置；

所述分布式X光源阵列单元(1)、X光探测器阵列部件(2)和准直器部件(3)在扫描期间能够绕基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置的垂直轴旋转。

2.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)采用碳纳米管X光源阵列。

3.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)、X光探测器阵列部件(2)和准直器部件(3)在扫描期间能够沿基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置的垂直轴上下移动。

4.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)包括：X光探测器阵列；

所述X光探测器阵列采用以下任意一种形状：

-圆环形；

-圆弧形；

-平板形；

-直条形。

5.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)包括：圆环形X光源阵列；

所述圆环形X光源阵列采用以下任意一种阵列：

-单排阵列；

-多排阵列。

6.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)包括：圆弧形X光源阵列；

所述圆弧形X光源阵列采用以下任意一种阵列：

-单排阵列；

-多排阵列。

7.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)包括：平板形X光源阵列；

所述平板形X光源阵列采用二维阵列。

8.根据权利要求1所述的基于X光源阵列的直立式计算机断层扫描装置，其特征在于，所述分布式X光源阵列单元(1)包括：直条形X光源阵列；

所述直条形X光源阵列采用以下任意一种阵列：

-单排阵列；

-多排阵列。