[发明专利]标定方法、位置确定方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种标定方法，其特征在于，包括：

获取图像采集设备拍摄的样本图像；

基于所述样本图像，确定所述样本图像中多个样本参照物在图像坐标系中的初始像素坐标；其中，所述多个样本参照物构成样本参照物阵列；

基于确定的每个样本参照物在图像坐标系中的初始像素坐标，在不同方向上分别对位于同一条直线上的所述样本参照物进行直线拟合，并基于拟合后得到的不同方向上的多条直线对参与拟合的初始像素坐标进行修正，得到修正像素坐标；

基于所述样本图像中的每个样本参照物在世界坐标系下的世界坐标、以及得到的修正像素坐标，确定所述图像采集设备的单应性矩阵。

2.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述基于确定的每个样本参照物在图像坐标系中的初始像素坐标，在不同方向上分别对位于同一条直线上的所述样本参照物进行直线拟合，并基于拟合后得到的不同方向上的多条直线对参与拟合的初始像素坐标进行修正，得到修正像素坐标，包括：

基于确定的每个样本参照物在图像坐标系中的初始像素坐标，对位于沿第一方向的直线上的样本参照物分别进行直线拟合，得到多条第一直线；

基于多条第一直线，对每个样本参照物在图像坐标系中的初始像素坐标进行修正，得到中间像素坐标；并基于每个样本参照物的中间像素坐标，对位于沿第二方向上的直线上的样本参照物分别进行直线拟合，得到多条第二直线，其中，沿第一方向上的直线与沿第二方向上的直线相交；

基于多条所述第一直线和多条所述第二直线，得到所述修正像素坐标。

3.根据权利要求2所述的标定方法，其特征在于，所述初始像素坐标包括初始第一坐标值和初始第二坐标值，所述初始第一坐标值对应的第一坐标轴与所述初始第二坐标值对应的第二坐标轴相互垂直；

基于多条第一直线，对每个样本参照物在图像坐标系中的初始像素坐标进行修正，得到中间像素坐标，包括：

将每个样本参照物的初始像素坐标中的初始第一坐标值，代入该样本参照物所在的所述第一直线的直线方程，得到中间第二坐标值；一个样本参照物的中间像素坐标包括该样本参照物的初始第一坐标值和中间第二坐标值；

基于每个样本参照物的中间像素坐标，对位于沿第二方向上的直线上的样本参照物分别进行直线拟合，得到多条第二直线，包括：

基于每个样本参照物的中间像素坐标中的初始第一坐标值和中间第二坐标值，对位于沿第二方向的直线上的所述样本参照物进行直线拟合，得到多条第二直线。

4.根据权利要求2或3所述的标定方法，其特征在于，所述基于多条所述第一直线和多条所述第二直线，得到所述修正像素坐标，包括：

将多条所述第一直线和多条所述第二直线的交点对应的像素坐标，作为所述修正像素坐标。

5.根据权利要求3所述的标定方法，其特征在于，所述第一坐标轴为图像坐标系中的横坐标轴，所述第二坐标轴为图像坐标系中的纵坐标轴；或者，所述第一坐标轴为图像坐标系中的纵坐标轴，所述第二坐标轴为图像坐标系中的横坐标轴。

6.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，确定所述图像采集设备的单应性矩阵之后，还包括：

获取所述图像采集设备拍摄的多个测试图像；

针对每个所述测试图像，确定所述测试图像中每个测试参照物在图像坐标系中的测试像素坐标；

基于所述测试像素坐标和所述单应性矩阵，确定所述测试参照物在所述世界坐标系中的测试世界坐标；

基于多个所述测试图像中所述测试参照物的真实世界坐标和所述测试世界坐标，确定所述单应性矩阵的准确度。

7.一种位置确定方法，其特征在于，包括：

获取图像采集设备拍摄目标物后得到的目标图像；

基于所述目标图像，确定所述目标物在图像坐标系下的像素坐标；

基于所述像素坐标和所述图像采集设备的单应性矩阵，确定所述目标物在世界坐标系下的世界坐标，所述图像采集设备的单应性矩阵采用权利要求1-6任一所述的标定方法确定。