[发明专利]一种交流电阻测试仪的校准方法

说明书

本发明公开了一种交流电阻测试仪的校准方法，所述方法包括以下步骤：S1：外观检查；S2：通电检查；S3：绝缘测试；S4：电阻测量及误差计算；S5：测试频率及误差计算。

技术领域

本发明涉及电学技术领域，具体涉及一种交流电阻测试仪的校准方法。

背景技术

交流电阻测试仪是一种广泛应用于微电子技术工业的测量仪器，用于测量被测元器件的电阻参数。在现有技术中，元器件的阻抗性能直接影响产品质量，现有交流电阻测试仪的校准方法校准周期短，校准准确度差，效率低。因此针对交流电阻测试仪提出一种行之有效的校准方法。

针对现有技术中的不足，本申请提出一种适用于测定未硫化胶料硫化适用于电阻测量范围包含在1mΩ～10000Ω、测试频率范围包含在50Hz～100kHz内的各类手持或台式交流电阻测试仪的校准。

发明内容

针对上述现有技术中的不足，本申请的目的是提供一种交流电阻测试仪的校准方法。

一种交流电阻测试仪的校准方法，所述方法包括以下步骤：

S1：外观检查；

S2：通电检查；

S3：绝缘测试；

S4：电阻测量及误差计算；

S5：测试频率及误差计算。

其中，所述步骤S1的外观检查，具体包括：

S1-1检查外观结构是否完好，面板指示、读数仪表、制造厂、仪器编号、型号信息是否有明确标记；

S1-2检查被检仪器外露件是否有松动和机械损坏；仪器附件、输入线和接地端是否齐全；开关和旋钮是否能正常转动。

其中，所述步骤S2的通电检查，具体包括：

S2-1接通被校仪器电源，观察读数仪表是否有显示、是否有显示缺陷，各个开关、旋钮是否能正常使用；

S2-2检查被校仪器的复零功能是否正常工作。

其中，所述步骤S3的绝缘测试，具体包括：

S3-1接通绝缘电阻测试仪电源，设定测试电压为500V，选择合适的量程，复零；

S3-2将绝缘电阻测试仪的一个测试端接至被测设备外壳，一个测试端接至线路端；

S3-3开启输出开关，读数，测试时间不少于10秒。

其中，所述步骤S4的电阻测量及误差计算，电阻测量误差的校准采用直接比较法，具体包括：

S4-1校准前，将被校仪器通电预热30分钟以上；

S4-2切换至电阻测量功能，选取测量频率和测量电压；

S4-3根据电阻箱设定值选取合适的量程，将被校仪器与测试线缆连接，进行开路校准和短路校准，若带有复零功能则复零；所述测试线缆连接优选绞合线；

S4-4双端子连接电路接或四端子连接电路连接，连接被校仪器和标准电阻箱；

S4-5测量并读数，切换量程，并重复步骤S4-1到S4-4；其中，基本量程的校准点的选取不少于5个点，其他量程的校准点的选取不少于1个点，优选在对应量程中均匀选择校准点。

其中，基本误差的计算如下：

电阻测量的示值误差使用公式(1)表示，相对示值误差使用公式(2)表示。

Δ＝P_x-P_N………………………………(1)