[发明专利]透射式太赫兹探头调节装置及定位方法在审
申请号: | 202010178338.1 | 申请日: | 2020-03-13 |
公开(公告)号: | CN111337430A | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 王丹 | 申请(专利权)人: | 华太极光光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/3586 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 徐秋平 |
地址: | 200433 上海市杨浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透射 赫兹 探头 调节 装置 定位 方法 | ||
本发明提供一种透射式太赫兹探头调节装置及定位方法;所述调节装置包括发射组件和接收组件;发射组件和接收组件均包括一光电导天线调节模块、一抛物面镜调节模块和一透镜调节模块;光电导天线调节模块用于安装光电导天线并调节光电导天线的角度;抛物面镜调节模块用于安装抛物面镜并调节抛物面镜的维度;透镜调节模块用于安装透镜并调节透镜的维度;该透射式太赫兹探头调节装置调试操作简单,多自由度的实现均通过螺丝的旋进程度及螺丝的固定位置实现,不需要复杂的调试工具,可以有效缩减人工调试周期,节约生产时间成本,具有调试速度快、调试结果优良等优点。
技术领域
本发明涉及物质检测技术领域,特别是涉及一种透射式太赫兹探头调节装置及定位方法。
背景技术
太赫兹(terahertz,THz)波通常是指频率范围在0.1~10THz(1THz=1012Hz)之间的电磁波,在电磁波谱中位于毫米波和远红外光之间,处于宏观电子学向微观光子学过渡的波段,是一种新型的远红外相干辐射源;太赫兹波对非极性和非金属物质具有穿透性并由于其安全性、抗扰性和可靠性的而被广泛应用于无损检测和物质分析。
目前,太赫兹时域光谱系统的检测方式分为透射式和反射式两种;其中,透射式检测是通过分析透过被测物的太赫兹信号吸收峰的频域位置,得到被测物质的吸收峰特性进行被测物质的有效识别,这一方式被应用于固体药品识别、火炸药分析及毒品检测等。
透射式检测一般需要通过两组光学系统对太赫兹源发出的太赫兹波进行准直汇聚后穿过被测物再汇聚至接收端,目前光学系统中的光学元件主要包括若干个抛物面镜和透镜;然而,由于太赫兹波的波长在介于红外和毫米波之间的电磁波区域,造成了上述光学系统中元件的设计和选型以及各元件之间的相对位置并不固定,且由于不同太赫兹源发射太赫兹波的不一致性,在所选光学元件相同的情况下,元件之间的相对位置以及光学系统与太赫兹源的相对位置均有差别,这增加了光学系统相对位置的设计难度和调试难度。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种透射式太赫兹探头调节装置及定位方法,用于解决现有技术中太赫兹光学系统相对位置设计难度和调试难度大的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种透射式太赫兹探头调节装置,包括:发射组件和接收组件;所述发射组件和所述接收组件均包括一光电导天线调节模块、一抛物面镜调节模块和一透镜调节模块;所述光电导天线调节模块设置在所述抛物面镜调节模块的下方,所述光电导天线调节模块用于安装光电导天线并调节所述光电导天线的角度;所述抛物面镜调节模块用于安装抛物面镜并调节所述抛物面镜的维度;所述透镜调节模块设置在所述抛物面镜调节模块的一侧,所述透镜调节模块用于安装透镜并调节所述透镜的维度。
于本发明的一实施例中,所述光电导天线调节模块包括套筒;所述光电导天线设置在所述套筒内;所述套筒侧壁上设置有两个螺丝组,两个所述螺丝组分别位于所述套筒侧壁的不同高度上,用于对所述光电导天线进行固定并对其进行角度调节。
于本发明的一实施例中,所述螺丝组包括至少三个螺丝,且所述螺丝均匀分布在所述套筒侧壁的同一高度上。
于本发明的一实施例中,所述抛物面镜调节模块包括L型安装座和弹簧;所述L型安装座的水平面上设置有位置调整螺丝,所述L型安装座的竖直面上设置有螺丝,所述弹簧一端与所述抛物面镜连接,另一端与所述螺丝连接。
于本发明的一实施例中,所述螺丝的数量至少为三,且所述螺丝均匀分布在所述L型安装座竖直面的一圆周上。
于本发明的一实施例中,所述透镜调节模块包括环形调整框和底座;所述透镜通过螺丝安装在所述环形调整框内;所述底座与所述环形调整框下端连接,所述底座上设置有底部固定螺丝。
于本发明的一实施例中,所述螺丝的数量至少为三,且所述螺丝均匀分布在所述环形调整框上。
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