[发明专利]一种基于线性外推的齿条边缘快速提取方法在审
申请号: | 202010180111.0 | 申请日: | 2020-03-16 |
公开(公告)号: | CN111383241A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 陈海进;薛敏 | 申请(专利权)人: | 南通大学 |
主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13;G06T7/11;G06T7/194 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 226019*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 线性 齿条 边缘 快速 提取 方法 | ||
1.一种基于线性外推的齿条边缘快速提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.待处理针布齿条图像预处理:对待处理针布齿条图像进行滤波处理、二值化处理和图像边界背景像素填充处理,得到不存在孤立目标像素点的二维二值图像,所述二维二值图像的周围边界所在的行和列均为背景像素点,将所述二维二值图像中的像素点分为目标像素点和背景像素点,令所述目标像素点的值为0,令所述背景像素点的值为1,所述二维二值图像中不存在孤立的目标像素点,所述二维二值图像的尺寸为m×n,用(x,y)表示二维二值图像中像素点的位置,以像素点(x,y)为分界点,将第x行分为像素点(x,y)的左侧和右侧,将第y列分为像素点(x,y)的上方和下方,其中,1≤x≤m,1≤y≤n;
S2.找出第一个边缘像素点a1和第二个边缘像素点a2:对所述二维二值图像从左侧开始向右依次选择列,对每一列自下向上逐像素点进行搜索,直至找到第一个值为0的像素点,将该像素点作为第一个边缘像素点a1,输出其位置(x1,y1),将所述第一个边缘像素点a1上方相邻的像素点作为第一个参照像素点c1;
判断所述第一个参照像素点c1的值是否为0,若是,则从所述第一个参照像素点c1开始逆时针依次考察所述第一个边缘像素点a1的八邻域内的像素点,直至最后一次找到值为0的像素点,将该像素点作为第二个边缘像素点a2,输出第二个边缘像素点a2的位置(x2,y2);若不是,则从所述参照像素点c0开始顺时针依次考察所述第一个边缘像素点a1的八邻域内的像素点,直至第一次找到值为0的像素点,将该目标像素点作为第二个边缘像素点a2,输出第二个边缘像素点a2的位置(x2,y2);
S3.采用基于线性外推的极坐标旋转寻点方法依次寻找所述二维二值图像中的其他边缘像素点,直至最后一个找到的边缘像素点aE在第一个边缘像素点a1的八邻域内,停止寻找;
其中,第j+1,2≤j≤E-1个边缘像素点aj+1的寻找过程为:
以第j-1个边缘像素点aj-1为起始点,过第j个边缘像素点aj作延长线,选择所述延长线上的第一个像素点作为参照像素点cj;
判断所述参照像素点cj的值是否为0,
若cj=0,则从所述参照像素点cj开始逆时针依次考察第j个边缘像素点aj的八邻域内的像素点,直至找到最后一个值为0的像素点,将该像素点作为第j+1个边缘像素点aj+1,输出第j+1个边缘像素点aj+1的位置(xj+1,yj+1);
若cj=1,则从所述参照像素点cj开始顺时针依次考察第j个边缘像素点aj的八邻域内的像素点,直至找到第一个值为0的像素点,将该像素点作为第j+1个边缘像素点aj+1,输出第j+1个边缘像素点aj+1的位置(xj+1,yj+1);
S4.根据所有边缘像素点ai,i=1,2,…,E的位置确定所述二维二值图像的目标边缘。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通大学,未经南通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010180111.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:阵列基板、显示面板以及显示装置
- 下一篇:一种自动化多工序的半导体片清洗设备