[发明专利]相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用有效
申请号: | 202010180342.1 | 申请日: | 2020-03-16 |
公开(公告)号: | CN111323434B | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 都卫东;王岩松;和江镇;吴健雄;王天翔 | 申请(专利权)人: | 征图新视(江苏)科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 常州品益专利代理事务所(普通合伙) 32401 | 代理人: | 乔楠 |
地址: | 213161 江苏省常州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 偏折术 玻璃 缺陷 检测 应用 | ||
本发明涉及玻璃缺陷检测,尤其是一种相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用,为解决现有玻璃缺陷检测时存在尺寸较小的凹坑无法检出,缺陷会受到玻璃下表面成像干扰的问题:提供一种相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用,包括如下步骤:1)、点亮环形光源时面阵相机拍照,采集暗场图像,暗场图像通过电脑计算缺陷检测,得到暗场检测结果;2)、控制器点亮显示屏,显示屏播放条纹图像,在显示器每帧切换时CCD相机采集图像,该图像通过电脑中的相位偏折算法计算缺陷检测,得到相位偏折检测结果;3)、将步骤1)中得到暗场检测结果和步骤2)中得到相位偏折检测结果配合进行综合计算,本发明能提高产品生产检测效率,降低人工以及设备成本。
技术领域
本发明涉及玻璃缺陷检测,尤其是一种相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用。
背景技术
现有玻璃缺陷检测,尤其是手机盖板玻璃产品缺陷检测中,会存在尺寸较小的凹坑无法检出,缺陷会受到玻璃下表面成像干扰的问题;同时现有技术只用于检测非透明高反物体,无法检测透明的物体,因为透明物体存在下表面的成像干扰,又由于脏下表面二次反射严重影响了原本的相位偏折的信息,从而导致在检出的缺陷图中下表面干扰与真实缺陷无法区分。
发明内容
本发明为了解决现有玻璃缺陷检测时存在尺寸较小的凹坑无法检出,缺陷会受到玻璃下表面成像干扰的问题:提供一种相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用,包括如下步骤:
1)、面阵相机安装在被测物的正上方且垂直于被测物,控制装置控制点亮环形光源,点亮环形光源时面阵相机拍照一次,采集到一幅暗场图像,暗场图像通过电脑计算缺陷检测,得到暗场检测结果;
2)、在步骤1)完成暗场拍摄完成后,环形光源和面阵相机上升到预设高度,控制器点亮显示屏,显示屏依次播放条纹图像,在显示器每帧切换的时候控制器控制CCD相机同时采集图像,得到用于相位偏折算法检测的图像,该图像通过电脑中的相位偏折算法计算缺陷检测,得到相位偏折检测结果;
3)、将步骤1)中得到暗场检测结果和步骤2)中得到相位偏折检测结果配合进行综合计算,其中暗场检测结果与相位偏折检测结果的配合是一个取交集的关系,二者各得到一个灰度图,灰度图各像素的亮度表示该点为缺陷的概率,当某个像素点在暗场检测结果上的亮度与相位偏折检测结果上的亮度都超过设定阈值时,判定该点存在缺陷。
进一步的,所述步骤2)中显示屏依次播放的条纹图像有26幅,包括横、竖格雷码图像各9幅和横、竖正弦条纹图像各4幅,其中正弦条纹图像为在x方向,或者y方向,单方向随坐标变换,灰度在0到255之间呈正弦周期变化的图像。
进一步的,所述横正弦条纹图像初相位依次为0°,90°,180°和270°,纵正弦条纹图像初相位依次为0°,90°,180°和270°。
进一步的,所述采用的相位偏折术在玻璃缺陷检测系统包括面阵相机、控制装置、环形光源、显示屏、CCD相机、电脑和升降装置,电脑与控制装置电连接,控制装置接收电脑发出的指令,并控制面阵相机、环形光源、显示屏、CCD相机和/或升降装置动作,面阵相机和环形光源设置在升降装置上,设置完成后的面阵相机和环形光源位于被测物的正上方且垂直于被测物,面阵相机和环形光源在升降装置的驱动下,垂直于被测物上下往复运动,在该上下往复运动轨迹的两侧分别设置了CCD相机和显示屏,CCD相机和显示屏朝向被测物。
进一步的,所述显示屏为LCD显示屏,LCD显示屏上依次显示N+8幅条纹图像,其中横、竖格雷码图像各N/2幅,横、竖正弦条纹图像各4幅,N为双数。
进一步的,所述条纹图像数量为26幅,N为18。
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