[发明专利]一种GaN纵向逆导结场效应管在审

专利信息
申请号: 202010180348.9 申请日: 2020-03-16
公开(公告)号: CN111341850A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 周琦;魏鹏程;董志文;马骁勇;熊娓;杨秀;刘熙;陈万军;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/80 分类号: H01L29/80;H01L29/20;H01L29/47;H01L29/45;H01L29/417
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 孙一峰
地址: 611731 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 gan 纵向 逆导结 场效应
【权利要求书】:

1.一种GaN纵向逆导结场效应管,从下至上依次包括层叠设置的漏极金属(8)、漏极N型重掺杂GaN层(1)、N型GaN漂移区(2)和P型掺杂GaN阻挡层(3);其特征在于,所述P型掺杂GaN阻挡层(3)与N型GaN漂移区(2)构成PNP结构的源极肖特基接触JFET区(10)和源极欧姆接触JFET区(11),PNP结构的源极肖特基接触JFET区(10)和源极欧姆接触JFET区(11)之间被P型GaN掺杂阻挡层(3)隔开;在所述源极肖特基接触JFET区(10)上表面具有源极肖特基金属(6),在所述源极欧姆接触JFET区(11)上表面具有N型重掺杂GaN层(4),N型GaN重掺杂层(4)上表面具有源极欧姆金属(5),所述P型掺杂GaN阻挡层(3)的上表面具有栅极金属(7),且栅极金属(7)夹在源极欧姆金属(5)和源极肖特基金属(6)之间。

2.根据权利要求1所述的一种GaN纵向逆导结场效应管,其特征在于,P型掺杂GaN阻挡层(4)的掺杂浓度为1~5x1017cm-3

3.根据权利要求2所述的一种GaN纵向逆导结场效应管,其特征在于,P型掺杂GaN阻挡层(4)的厚度为0.5~2.5μm。

4.根据权利要求3所述的一种GaN纵向逆导结场效应管,其特征在于,源极欧姆接触JFET区(11)的沟道宽度为0.5~1.5μm。

5.根据权利要求4所述的一种GaN纵向逆导结场效应管,其特征在于,源极肖特基接触JFET区(10)的沟道宽度为1~3μm。

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