[发明专利]一种台区出口低电压成因大数据分析方法及系统

权利要求书

1.一种台区出口低电压成因大数据分析方法，其特征在于，所述方法利用台区采集装置采集供电出口侧三相电压、电流、有功电气量，利用变电站母线电压采集装置采集三相或两相母线电压数据；对采集的数据进行预处理，并将时序数据存储至后台数据库中，分成台区运行数据表和母线电压数据表；对采集到的台区出口电压数据及10kV母线电压数据生成台区出口低电压事件及母线低电压事件，并默认每次台区出口低电压事件的原因为10kV线路网架问题；利用台区出口电压数据和母线电压数据自动分析台区出口低电压原因；

所述自动分析台区出口低电压原因分两步进行：

第一步，初步分析台区出口低电压原因；

第二步，进一步分析台区出口低电压原因；

初步分析台区出口低电压原因如下：

(1)当低电压事件发生时，若该日台区采集点小于24点，则判定为台区采集器采集问题，则将台区出口低电压事件中的dt_lowvlot_reason字段重新设置为“0”，表示台区采集器采集问题，否则，进入步骤(2)；

(2)计算低电压事件发生时每个采集点三相电压平均值，事件发生时三相电压平均值是否均大于198V，若是，则判定为台区三相不平衡问题，则将台区出口电压低电压事件的dt_lowvlot_reason字段重新设置为“1”，表示为台区三相负荷不平衡问题，否则，进入步骤(3)；

(3)计算低电压事件发生时，是否存在接触不良、断相缺陷问题，判定规则如子流程①、②、③所示，若是，则判定为台区为断相、接触不良缺陷问题，则将台区出口电压低电压事件的dt_lowvlot_reason字段重新设置“2”，表示台区断相、接触不良缺陷问题，否则，进入第二步；

①若事件发生时间内某个采集点存在|u_a+u_b-u_c|50V且max(u_a,u_b,u_c)198V，则判断为台区为断相、接触不良缺陷问题，Yyn0配变缺陷为C相，Dyn11配变缺陷为A相；

②若事件发生时间内某个采集点存在|u_a+u_c-u_b|50V且max(u_a,u_b,u_c)198V，则判断为台区为断相、接触不良缺陷问题，Yyn0配变缺陷为B相，Dyn11配变缺陷为C相；

③若事件发生时间内某个采集点存在|u_c+u_b-u_a|50V且max(u_a,u_b,u_c)198V，则判断为台区为断相、接触不良缺陷问题，Yyn0配变缺陷为A相，Dyn11配变缺陷为B相；

其中：u_a、u_b、u_c为低电压事件期间的台区出口a、b、c三相出口电压数据序列；

所述进一步分析台区出口低电压原因如下：

(1)以10kV线路为容器对台区出口低电压事件按日分组，寻找所有出口低电压原因为10kV线路网架问题的台区出口低电压事件；每次事件出口低电压时间内是否存在10kV母线低电压事件，若存在则将该台区该时刻出口低电压事件原因判定为母线低电压问题，该台区出口低电压事件的dt_lowvlot_reason字段重新设置为“4”，表示该台区出口低电压由母线低电压问题引起；

(2)以10kV线路为容器对台区出口低电压事件按日分组，寻找所有台区出口低电压原因为断相、接触不良缺陷问题dt_lowvlot_reason字段值为“2”的事件，若存在2台及以上台区低电压事件为断相、接触不良缺陷问题，则判定为10kV线路断线、接触不良缺陷问题，将所涉及的台区出口低电压事件dt_lowvlot_reason字重新设置为“5”，表示所涉及的台区出口低电压由10kV线路缺陷问题引起；

(3)以10kV线路为容器对台区出口低电压事件按日分组，再次寻找所有台区出口低电压原因为10kV线路网架问题dt_lowvlot_reason字段值为“6”的事件，若存在小于2台的配变，则所涉及的台区判定为配变档位问题，将所涉及的台区出口低电压事件dt_lowvlot_reason字重新设置为“3”。