[发明专利]膏体外观缺陷检测设备及方法

权利要求书

1.一种膏体外观缺陷检测设备，其特征在于，包括：

传送装置，所述传送装置用户用于在指定方向上运送膏体；

第一触发传感器，所述第一触发传感器设置在所述传送装置的第一位置，用于在第一位置检测所述膏体是否到达；

第一摄像机、第二摄像机和第五摄像机，所述第一摄像机和所述第二摄像机用于在第一位置对所述膏体在水平方向上进行拍摄，所述第五摄像机用于在第一位置对所述膏体在垂直向下的方向上进行拍摄；

第二触发传感器，所述第二触发传感器设置在所述传送装置的第二位置，用于在第二位置检测所述膏体是否到达；

第三摄像机和第四摄像机，所述第三摄像机和所述第四摄像机用于在第二位置对所述膏体在水平方向上进行拍摄；

缺陷检测处理器，所述缺陷检测处理器通过所述第一摄像机、所述第二摄像机、所述第三摄像机、所述第四摄像机及所述第五摄像机拍摄的图像判断所述膏体是否存在外观缺陷。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第一光源，所述第一光源在所述第一位置照射所述膏体。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第一遮蔽挡板，所述第一遮蔽挡板设置在于所述第一光源相对的一侧，用于将所述第一光源的光反射到所述第一位置。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二光源，所述第二光源在所述第二位置照射所述膏体。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二遮蔽挡板，所述第二遮蔽挡板设置在于所述第二光源相对的一侧，用于将所述第二光源的光反射到所述第二位置。

6.根据权利要求2-5中任一项所述的装置，其特征在于：

所述第一光源为面板型LED常亮光源，所述LED常亮光源通过上游触发传感器进行点亮触发操作。

7.根据权利要求2-5中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

所述第一遮挡板和所属第二遮挡板为漫反射材质。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：

对于所述第五摄像机拍摄的图像，采用图像处理技术对图像进行粗定位，用于确定膏体的位置和半径；

在所述膏体的位置和半径的区域内，判断所述膏体是否存在预设缺陷，所述预设缺陷包括断尖、气孔、凹陷中的至少一种。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：

对于所述第一摄像机、所述第二摄像机、所述第三摄像机、所述第四摄像机拍摄的膏体的侧面图像，进行图像增强操作；

对增强操作处理之后的图像，利用预设的深度学习模型，进行缺陷监测。

10.一种膏体外观缺陷检测方法，其特征在于，包括：

利用传送装置用户在指定方向上运送膏体；

将第一触发传感器设置在所述传送装置的第一位置，用于在第一位置检测所述膏体是否到达；

设置第一摄像机、第二摄像机和第五摄像机，所述第一摄像机和所述第二摄像机用于在第一位置对所述膏体在水平方向上进行拍摄，所述第五摄像机用于在第一位置对所述膏体在垂直向下的方向上进行拍摄；

设置第二触发传感器，所述第二触发传感器设置在所述传送装置的第二位置，用于在第二位置检测所述膏体是否到达；

设置第三摄像机和第四摄像机，所述第三摄像机和所述第四摄像机用于在第二位置对所述膏体在水平方向上进行拍摄；

设置缺陷检测处理器，所述缺陷检测处理器通过所述第一摄像机、所述第二摄像机、所述第三摄像机、所述第四摄像机及所述第五摄像机拍摄的图像判断所述膏体是否存在外观缺陷。