[发明专利]一种基于量子碳膜的pn结二极管结构及制作方法有效

专利信息
申请号: 202010187405.6 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN111524993B 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 刘萍;刘丹 申请(专利权)人: 湖北云邦科技有限公司
主分类号: H01L31/103 分类号: H01L31/103;H01L31/0288;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 王震宇
地址: 430205 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 量子 pn 二极管 结构 制作方法
【说明书】:

一种基于量子碳膜的pn结二极管结构及制作方法,该pn结二极管结构包括:p型基板,所述p型基板是由多层石墨烯层上下层叠形成的量子碳膜基板;位于所述p型基板的上侧的n型层,所述n型层是通过在所述p型基板中注入掺杂元素而形成,所述n型层与所述p型基板形成pn结;位于所述n型层上与所述n型层形成欧姆接触的上电极;以及位于所述p型基板的下侧与所述p型基板形成欧姆接触的下电极。该pn结二极管结构可应用于高温、高频、高效的大功率器件,能够提高器件性能。该制作方法工艺简单,易于量产和普及。

技术领域

发明涉及半导体器件领域,特别是涉及一种基于量子碳膜的pn结二极管结构及制作方法。

背景技术

pn结是半导体器件中的基础器件结构,传统技术中典型的pn结二极管基于硅半导体制作。而随着科学技术的发展,己有的半导体材料己经不能满足一些领域的需求,尤其是一些处于高温高压等极端环境下的军事、航天等应用领域,因此,拥有优异性能的新型半导体材料的开发刻不容缓。

石墨烯基的半导体功能器件最近成为了研究的热点,但是本征石墨烯的零带隙特点限制了其在微电子领域的应用。通过掺杂形成的石墨烯pn结,结区的面积小,不能充分发挥pn结的优势。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于量子碳膜的pn结二极管结构及制作方法。

为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:

一种基于量子碳膜的pn结二极管结构,包括:p型基板,所述p型基板是由多层石墨烯层上下层叠形成的量子碳膜基板;位于所述p型基板的上侧的n型层,所述n型层是通过在所述p型基板中注入掺杂元素而形成,所述n型层与所述p型基板形成pn结;位于所述n型层上与所述n型层形成欧姆接触的上电极;以及位于所述p型基板的下侧与所述p型基板形成欧姆接触的下电极。

进一步地:

所述量子碳膜基板的厚度为6-100微米。

所述掺杂元素为氮元素、磷元素、砷元素或其组合。优选地,所述掺杂元素为氮元素,氮离子的注入剂量为1×1018cm-3-3×1020cm-3,优选地,注入剂量为1.1×1020cm-3-1.5×1020cm-3

所述上电极和所述pn结形成突出在所述量子碳膜基板表面上的台面。

所述上电极为Au、Al、Cr、Ti、Mo或Pd单层电极,或MoW合金电极,或石墨烯、纳米银或透明氧化物电极,或Ti/Pt、Ti/Au双层电极或Ti/Al/Ni/Au多层电极;优选的,为Ti/Au双层电极,更优选地,包括1-10nmTi膜,更优选5nm的Ti膜,以及20-100nm的Au膜,更优选50nmAu膜。

一种所述的基于量子碳膜的pn结二极管结构的制作方法,包括如下步骤:

A1、通过离子注入方法在由量子碳膜构成的p型基板中注入掺杂元素,形成所述p型基板的上侧的n型层;

A2、对离子注入区进行退火,以修复离子注入引起的晶格损伤,并激活掺杂元素;

A3、在所述n型层上制备上电极;

A4、在所述p型基板的下侧制备下电极。

进一步地:

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