[发明专利]一种导轨综合精度测量设备

说明书

本发明公开了一种导轨综合精度测量设备，包括导轨托起装置、导轨拉紧装置和精度测量装置，导轨拉紧装置位于导轨托起装置的上方，导轨托起装置能够托起被测导轨将其送至导轨拉紧装置，导轨拉紧装置能够将倒置状态下的被测导轨悬挂在精度测量装置的测量位置上，精度测量装置工作时，同步带驱动机构启动，通过轴向移动座同时带动标准滑块和滑块连接框架沿导轨轴向行走，并通过传感器测量标准滑块的下端面相对基准水平面的浮动位移，进而实现被测导轨的中心高、倾斜、扭曲等各项精度测量，同时杜绝了现有技术中因传感器的接触探头与被测导轨之间产生摩擦磨损而影响测量精度的问题,大大减少人工操作和节约时间，测量效率及精度高。

技术领域

本发明属于直线导轨测量领域，更具体地说，涉及一种导轨综合精度测量设备。

背景技术

导轨作为导向装置，能够在负载的情况下实现高精度的直线运动，在加工设备上广泛应用，导轨的精度也直接影响加工精度，因此对导轨的精度检测至关重要。

目前，直线导轨精度测量大多依据JB/T7175.4-2006相关精度检测标准，采用手工测量或接触式传感器进行测量，手工测量导轨精度时，用螺钉将导轨固定在大理石平台上，将表座与导轨侧基准面和导轨安装平面对齐，并将表头对准导轨的所需测量表面，然后以与直线导轨底面贴合的大理石平台平面作为底面测量基准、表座的侧面靠住导轨的侧面作为侧面测量基准，拖动表座测量标准滑块顶面和侧面在不同位置的变动量，测量的最大和最小值的差值即为导轨的平行度误差。但是，该测量方法的过程费时费力，而且只能分段取点测量，测量准确度低，且对试验员素质要求高。也有一些测量参考JB/T7175.4-2006相关标准，采用非接触式气压位移检测头通过检测标准滑块顶面和导轨底面的距离变动量，来分析导轨滚道到导轨底面的平行度误差，但非接触式气压位移检测头受导轨和滑块表面粗糙度的影响，可以检测分析导轨滚道到导轨底面的平行度变化趋势，检测的数据重复精度会因为表面粗糙度的变化而变化。

发明内容

本发明所要解决的问题在于，提供一种导轨综合精度测量设备，通过与被检测导轨底面和侧面均贴合的移动平面作为测量基准直接进行检测，大大减少人工操作和节约时间，测量效率及精度高，符合JB/T7175.4-2006相关精度检测标准。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种导轨综合精度测量设备，其以被测导轨的长度方向为设备的轴向，以被测导轨的宽度方向为设备的横向，所述导轨综合精度测量设备包括机架以及安装在所述机架上的导轨托起装置、导轨拉紧装置和精度测量装置，所述导轨拉紧装置位于所述导轨托起装置的上方；

所述导轨托起装置沿所述轴向间隔地布置有多个，所述导轨托起装置能够托起被测导轨将其送至所述导轨拉紧装置；

所述导轨拉紧装置沿所述轴向间隔地布置有多个，所述导轨拉紧装置能够将倒置状态下的被测导轨悬挂在所述精度测量装置的测量位置上，所述被测导轨的上端面与所述导轨拉紧装置上的基准水平面相靠；

所述精度测量装置包括标准导轨、标准滑块、滑块连接框架、轴向移动座和同步带驱动机构，所述标准导轨设有两个且分别与所述被测导轨的轴向两端同轴相靠，所述标准导轨呈倒置状态且其上端面与所述基准水平面相靠；所述标准滑块呈倒置状态并能在所述标准导轨和被测导轨上滑移，所述标准滑块置于所述滑块连接框架的内部且其横向两侧分别与所述滑块连接框架固定相连，所述滑块连接框架的顶部设有与所述标准滑块或被测导轨的上端面及两侧面滑动贴合的滑槽；所述滑块连接框架的底部设有三个分别用于测量所述标准滑块的下端面相对所述基准水平面的浮动位移的传感器，三个所述传感器分别与所述标准滑块的下端面的中部及两侧对应；所述滑块连接框架的外部与所述轴向移动座固定相连，所述同步带驱动机构安装在所述机架上，所述轴向移动座与所述同步带驱动机构的同步带固定相连。

作为本发明的优选方案，所述导轨托起装置包括用于承托被测导轨的升降座和用于驱动所述升降座升降的顶推气缸，所述顶推气缸安装在机架上，所述顶推气缸的活塞杆与所述升降座连接。