[发明专利]材料介电性能的测试装置和测试方法有效
申请号: | 202010192691.5 | 申请日: | 2020-03-18 |
公开(公告)号: | CN111239498B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 宋锡滨;奚洪亮;艾辽东 | 申请(专利权)人: | 山东国瓷功能材料股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵囡囡 |
地址: | 257000 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 材料 性能 测试 装置 方法 | ||
1.一种材料介电性能的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:
电磁波吸收板(10),用于吸收电磁波;
测试样品架(20),设置于所述电磁波吸收板(10)上,其中,所述测试样品架(20)的顶面与所述电磁波吸收板(10)平行,用于放置待测试样品;
开放式谐振腔,由位于所述电磁波吸收板(10)上方的第一凹面镜(31)和第二凹面镜(32)组成,且所述第一凹面镜(31)和所述第二凹面镜(32)的摆放角度和摆放位置可调节,其中,所述第一凹面镜(31)和所述第二凹面镜(32)在测试样品架(20)上方的左右两侧对称设置,且所述第一凹面镜(31)的凹面中心线与所述第二凹面镜(32)的凹面中心线的交叉点投射于所述测试样品架(20)的顶面,所述第一凹面镜(31)包括:第一凹面镜主体(31a)、第一转动控制轴(31b)和第一支撑移动滑杆(31c),其中,所述第一凹面镜主体(31a)通过所述第一转动控制轴(31b)调整摆放角度,通过所述第一支撑移动滑杆(31c)调整摆放位置,所述第一支撑移动滑杆平行于所述电磁波吸收板(10)设置,所述第二凹面镜(32)包括:第二凹面镜主体(32a)、第二转动控制轴(32b)和第二支撑移动滑杆(32c),其中,所述第二凹面镜主体(32a)通过所述第二转动控制轴(32b)调整摆放角度,通过所述第二支撑移动滑杆(32c)调整摆放位置,所述第二支撑移动滑杆平行于所述电磁波吸收板(10)设置;
网络分析仪,与所述开放式谐振腔连接,用于向所述开放式谐振腔内发送预设频率的初始电磁波,并接收所述开放式谐振腔回传的目标电磁波,进而基于所述初始电磁波和所述目标电磁波的性质参数确定所述待测试样品的介电性能。
2.根据权利要求1所述的材料介电性能的测试装置,其特征在于,所述第一凹面镜(31)的凹面中心线、所述第二凹面镜(32)的凹面中心线与所述电磁波吸收板(10)的垂直线之间的夹角均满足第一预设范围。
3.根据权利要求1所述的材料介电性能的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:
第一同轴传输线,与所述网络分析仪连接,用于接收所述网络分析仪生产的初始电磁波;
第一同轴耦合波导环(41),与所述第一同轴传输线连接,且贯穿设置于所述第一凹面镜(31)的凹面中心,用于接收所述第一同轴传输线传输的初始电磁波,并将所述初始电磁波输送至所述开放式谐振腔内;
第二同轴耦合波导环(42),贯穿设置于所述第二凹面镜(32)的凹面中心,用于接收所述开放式谐振腔内回传的目标电磁波;
第二同轴传输线,与所述第二同轴耦合波导环(42)和所述网络分析仪连接,用于接收所述第二同轴耦合波导环(42)所接收的目标电磁波,并将所述接收到的电磁波回传至所述网络分析仪中。
4.一种材料介电性能的测试方法,其特征在于,所述材料介电性能的测试方法应用于所述权利要求1-3中任意一项的材料介电性能的测试装置,其中,所述材料介电性能的测试方法包括:
在开放式谐振腔未加载待测试样品的情况下,通过网络测试仪对开放式谐振腔进行第一次测试处理,得到第一测试数据;
将待测试样品加载至开放式谐振腔内,不断调整开放式谐振腔对应的摆放角度和摆放位置,直至所述开放式谐振腔内的待测试样品发生谐振,再通过所述网络测试仪对所述开放式谐振腔进行第二次测试处理,得到第二测试数据;
基于所述第一测试数据和所述第二测试数据计算所述待测试样品的材料介电性能。
5.根据权利要求4所述的材料介电性能的测试方法,其特征在于,在调整开放式谐振腔对应的摆放角度和摆放位置的过程中,第一凹面镜的凹面中心线与第二凹面镜的凹面中心线的交叉点始终投射于测试样品架的顶面的目标位置,其中,所述开放式谐振腔由对称设置的第一凹面镜和第二凹面镜组成,所述测试样品架的顶面用于加载待测试样品。
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