[发明专利]探测装置及探测方法

说明书

本发明提供一种探测装置及探测方法，涉及探测技术领域。该装置包括：像素阵列，像素阵列用于感光；控制单元，与像素阵列连接，用于控制像素阵列进行感光；发光单元，用于发射探测光；驱动单元，连接控制单元与发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，驱动信号用于驱动发光单元发射探测光；检测校正单元，用于检测探测光经反射后的反射光，根据反射光确定校正后的驱动信号；检测校正单元与驱动单元连接，使得驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元发射探测光。通过设置检测校正模块，提高了生产效率，也使得测量的信息更加精确，检测校正模块产生的基准信号，对驱动信号校正，实现了按照基准发射探测光，实现了最优的测量结果。

技术领域

本发明涉及探测技术领域，具体而言，涉及一种探测装置及探测方法。

背景技术

探测系统可以通过发射光对多种信息进行探测，由于温度、电源电压波动和系统老化等影响，发射光以及对应的反射光都会变化，从而导致测量的信息产生误差。

相关技术中，在出厂前进行发射光，随环境温度和电源电压变化的标定和相应校正，形成发射光、环境参数以及电源电压的查找表，在探测系统中预设查找表，在使用时测量环境参数信息，根据该测量环境参数信息在预设查找表中查找校正信息，采用校正信息对发射光进行校正。

但是，相关技术中，标定形成查找表的过程较为繁杂且耗时较长，降低了生产效率，且固定的查找表无法反映器件老化和环境变化对发射光的影响，容易导致测量的信息误差较大。

同时，在实际的测量过程中，发射激光和接收端像元调控波形不匹配会造成测量精度偏差，进而影响整个测量方案的应用。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种探测装置及探测方法，以便解决相关技术中，标定形成查找表的过程较为繁杂且耗时较长，降低了生产效率，且固定的查找表无法反映器件老化和环境变化对发射光的影响，容易导致测量的信息误差较大的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种探测装置，所述装置包括：

像素阵列，所述像素阵列用于感光；

控制单元，与所述像素阵列连接，用于控制所述像素阵列进行感光；

发光单元，用于发射探测光；

驱动单元，用于连接所述控制单元与所述发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述发光单元发射所述探测光；

检测校正单元，用于检测所述探测光经反射后的反射光，根据所述反射光确定校正后的驱动信号；

所述检测校正单元与所述驱动单元连接，使得所述驱动单元根据所述校正后的驱动信号驱动所述发光单元发射探测光。

可选的，所述检测校正单元包括：探测单元、测量子单元和校正子单元；

所述探测单元与所述测量子单元连接，所述测量子单元通过所述校正子单元与所述驱动单元连接，用以使得所述测量子单元检测电信号的特征参数，并比较所述特征参数以及预设的特征参数，向所述校正子单元输出比较结果，使得所述校正子单元根据所述比较结果，校正所述驱动信号。

可选的，所述预设的特征参数包括如下至少一种方式获得的特征参数：

预置先验方法、校准方案、自适应计算、开机标定、多次预设比较、动静画面区分自适应计算。

可选的，所述探测装置还包括基准信号产生模块，所述基准信号产生模块用于产生基准信号，以校正所述发光单元的至少之一特征参数。

可选的，所述像素阵列和所述控制单元位于第一芯片，所述驱动单元、所述发光单元和所述检测校正单元位于第二芯片。