[发明专利]一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

权利要求书

1.一种电子元器件的集成式自动检验装置，其特征在于，包括： SMD器件备检单元和插装器件备检单元，控制器和自动检验仪器；

所述控制器，用于识别所述SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件；控制所述SMD器件备检单元和插装器件备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验；

所述SMD器件备检单元，用于安装备检的SMD盘件，在所述控制器的控制下，依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器；

所述插装器件备检单元，用于安装多个备检的插装器件，在所述控制器的控制下，将多个插装器件并行连接到自动检验仪器；所述并行连接插装器件的数量与自动检验仪器的插装器件检验通道数量匹配；

所述SMD器件备检单元包括SMD盘件安装器、SMD备检确认开关、步进电机和测试触头；

所述SMD盘件安装器为可旋转的卡盘安装器，用于安装固定备检的SMD盘件；

所述SMD备检确认开关，设置在所述SMD盘件安装器的基座上，当SMD盘件安装固定后，所述SMD备检确认开关被下压接通，开关接通信号发送给所述控制器，通知所述控制器SMD盘件安装完毕，等待进行检验；

所述步进电机连接所述SMD盘件安装器，在所述控制器输出信号的控制下，带动SMD盘件旋转一定的角度，依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器；

脉冲发生器，连接在所述控制器与步进电机之间连接，在进行SMD器件检验时，所述控制器向脉冲发生器发送与备检的SMD器件对应的触点信号，脉冲发生器根据收到触点信号向步进电机发送对应的脉冲信号，驱动步进电机旋转对应的角度，使备检的SMD器件进入检测区域通道；

位置传感器，用于检测SMD器件进入检测区域通道的待检位置，当SMD器件位移至待检位置时，位置传感器工作，发出信号反馈给控制器，控制器控制步进电机停止动作；

所述测试触头与自动检验仪器电连接，当检测到备检的SMD器件进入检测区域通道后，所述测试触头下移，接触备检的SMD器件引脚，使自动检验仪器对SMD器件进行检验，当检验结束后，所述测试触头抬起，与SMD器件分离；等待下一个备检的SMD器件进入检测区域通道后再次下移；

所述测试触头处包含有微型传感器，用于微调测试触头位置，使测试触头准确对接SMD器件的引脚。

2.根据权利要求1所述的集成式自动检验装置，其特征在于，所述插装器件备检单元包括插装器件安装器；所述插装器件安装器包括多个用于安装插装器件的插装单元；每个插装单元具有与多种插装器件匹配的插孔，插孔的底部有金属触头，插装器件插入插孔后与所述金属触头接触；所述金属触头与自动检验仪器连接；

所述每个插装单元包括一个插装接触开关，当插装器件插入插装单元后，插装接触开关接通，开关接通信号发送给所述控制器，通知所述插装单元内有备检的插装器件。

3.根据权利要求2所述的集成式自动检验装置，其特征在于，所述控制器包括检验类型判断单元、第一控制单元和第二控制单元；

所述检验类型判断单元，用于根据接收的SMD备检确认开关和/或插装接触开关的接通信号，触发所述第一控制单元和/或第二控制单元工作；

所述第一控制单元用于控制所述SMD器件备检单元工作，采用顺序检验的方法，按照所述SMD盘件上的SMD器件排列顺序，依次控制所述SMD器件备检单元转动，使SMD器件逐个进入检测区域通道进行检验；

所述第二控制单元用于控制所述插装器件备检单元工作，采用并行检验方法，根据与插装单元对应的插装接触开关的接通信号，对安装在插装单元的插装件进行并行检验。

4.根据权利要求3所述的集成式自动检验装置，其特征在于，还包括人机控制单元，用于向控制器发送指令对器件的检验过程进行控制；与自动检验仪器连接，接收、显示并存储自动检验仪器对器件的检验结果。