[发明专利]光场跨尺度的零次学习超分辨率方法有效

专利信息
申请号: 202010196773.7 申请日: 2020-03-19
公开(公告)号: CN111369443B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 肖照林;刘崟海;金海燕;杨秀红;蔡磊;李秀秀 申请(专利权)人: 浙江昕微电子科技有限公司
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06N3/0464;G06N3/08
代理公司: 广州中粤知识产权代理事务所(普通合伙) 44752 代理人: 李晨
地址: 311800 浙江省绍兴市诸*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光场跨 尺度 学习 分辨率 方法
【权利要求书】:

1.光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,其特征在于:具体包括如下步骤:

步骤1:将光场原始图像,光场白图像以及相机参数依次读入计算机软件MATLAB中;

步骤2、对输入的光场原始图像进行解码得到四维光场矩阵;

步骤3、通过循环四维光场矩阵中的角度信息[u,v]坐标提取u×v张不同角度的子孔径信息;

步骤4、对u行v列子孔径图像依次进行以下操作:从第一行子孔径图像开始循环,在每一行子孔径图像中依次提取每幅图像相同高度的像素点得到s幅光场EPI图像;

步骤5、对步骤4中得到的光场EPI图像进行零次学习超分辨;

步骤6、将步骤5中超分辨以后的结果依次投影回原子孔径图像中的对应位置;

步骤7、通过步骤1-6最终可以得到经过零次学习超分辨以后的光场子孔径图像,即代表了光场图像的不同视角。

2.根据权利要求1所述的光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,其特征在于:步骤2具体如下:

步骤2.1,对光场原图像与光场白图像进行角度为angle的图像旋转;其中,angle为微透镜阵列旋转角度;

步骤2.2,对微透镜阵列的水平间隔与垂直间隔(x,y)进行如公式(1)的操作,得到光场图像的微透镜角度分辨率[u,v],即光场图像的二维角度信息;

u=ceil(y/2)*2+1

v=ceil(x/2)*2+1 (1)

其中,x是微透镜的水平间隔,y是微透镜的垂直间隔;

步骤2.3,通过光场相机参数1_CentersXY.txt中的参数(height,width)为光场图像微透镜大小[s,t]赋值,其中s=height,t=width;即光场图像的二维位置信息;

所述光场原始图像文件为1_LensletRaw.bmp,光场白图像文件为hiteImage.bmp,光场相机参数1_CentersXY.txt包括微透镜大小(height,width),微透镜阵列旋转角angle,微透镜中心点坐标centers。

3.根据权利要求2所述的光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,其特征在于:步骤3具体如下:

步骤3.1:建立一个五维光场坐标LF_STUV(s,t,u,v,3),其中[s,t]也称为空间分辨率;

步骤3.2:利用双平面参数化表征光场图像成像原理建立UV平面,其中UV平面的高UV.height=u,宽UV.width=v;建立ST平面,其中ST平面的高ST.height=s,宽ST.width=t;使用公式(2)计算出UV平面的中心点,即主镜头的理想中心:

UV_center.width=floor(u/2)+1

UV_center.height=floor(v/2)+1 (2)

步骤3.3:将光场白图像转换为二维灰度图像,同时对二维灰度图像进行二值化操作,其中,二值化阈值设定为50/255。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江昕微电子科技有限公司,未经浙江昕微电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010196773.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top