[发明专利]光场跨尺度的零次学习超分辨率方法有效
申请号: | 202010196773.7 | 申请日: | 2020-03-19 |
公开(公告)号: | CN111369443B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 肖照林;刘崟海;金海燕;杨秀红;蔡磊;李秀秀 | 申请(专利权)人: | 浙江昕微电子科技有限公司 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40;G06N3/0464;G06N3/08 |
代理公司: | 广州中粤知识产权代理事务所(普通合伙) 44752 | 代理人: | 李晨 |
地址: | 311800 浙江省绍兴市诸*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光场跨 尺度 学习 分辨率 方法 | ||
1.光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,其特征在于:具体包括如下步骤:
步骤1:将光场原始图像,光场白图像以及相机参数依次读入计算机软件MATLAB中;
步骤2、对输入的光场原始图像进行解码得到四维光场矩阵;
步骤3、通过循环四维光场矩阵中的角度信息[u,v]坐标提取u×v张不同角度的子孔径信息;
步骤4、对u行v列子孔径图像依次进行以下操作:从第一行子孔径图像开始循环,在每一行子孔径图像中依次提取每幅图像相同高度的像素点得到s幅光场EPI图像;
步骤5、对步骤4中得到的光场EPI图像进行零次学习超分辨;
步骤6、将步骤5中超分辨以后的结果依次投影回原子孔径图像中的对应位置;
步骤7、通过步骤1-6最终可以得到经过零次学习超分辨以后的光场子孔径图像,即代表了光场图像的不同视角。
2.根据权利要求1所述的光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,其特征在于:步骤2具体如下:
步骤2.1,对光场原图像与光场白图像进行角度为angle的图像旋转;其中,angle为微透镜阵列旋转角度;
步骤2.2,对微透镜阵列的水平间隔与垂直间隔(x,y)进行如公式(1)的操作,得到光场图像的微透镜角度分辨率[u,v],即光场图像的二维角度信息;
u=ceil(y/2)*2+1
v=ceil(x/2)*2+1 (1)
其中,x是微透镜的水平间隔,y是微透镜的垂直间隔;
步骤2.3,通过光场相机参数1_CentersXY.txt中的参数(height,width)为光场图像微透镜大小[s,t]赋值,其中s=height,t=width;即光场图像的二维位置信息;
所述光场原始图像文件为1_LensletRaw.bmp,光场白图像文件为hiteImage.bmp,光场相机参数1_CentersXY.txt包括微透镜大小(height,width),微透镜阵列旋转角angle,微透镜中心点坐标centers。
3.根据权利要求2所述的光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,其特征在于:步骤3具体如下:
步骤3.1:建立一个五维光场坐标LF_STUV(s,t,u,v,3),其中[s,t]也称为空间分辨率;
步骤3.2:利用双平面参数化表征光场图像成像原理建立UV平面,其中UV平面的高UV.height=u,宽UV.width=v;建立ST平面,其中ST平面的高ST.height=s,宽ST.width=t;使用公式(2)计算出UV平面的中心点,即主镜头的理想中心:
UV_center.width=floor(u/2)+1
UV_center.height=floor(v/2)+1 (2)
步骤3.3:将光场白图像转换为二维灰度图像,同时对二维灰度图像进行二值化操作,其中,二值化阈值设定为50/255。
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