[发明专利]一种测试系统中供电通道的电流校准装置及校正方法

权利要求书

1.一种测试系统中供电通道的电流校准装置，其特征在于，包括n个供电通道、与n个供电通道一一对应的n个连接开关、m个电阻、与m个电阻一一对应的m个选择开关、VBIAS电源、SPI总线、上位机和电流表，其中，n和m均为大于0的整数；

每个供电通道的一端连接SPI总线，所述供电通道的另一端通过对应的连接开关连接至节点Q，选择开关的两端分别连接节点Q和电阻的一端，电阻的另一端连接至所述电流表的正端，电流表的负端连接至VBIAS电源，所述VBIAS电源同时连接SPI总线；

所述上位机控制其中一个连接开关和其中一个选择开关闭合，所述SPI总线控制供电通道和VBIAS电源的输出电压。

2.根据权利要求1所述的一种测试系统中供电通道的电流校准装置，其特征在于，所述m个电阻的电阻值均不相等。

3.根据权利要求2所述的一种测试系统中供电通道的电流校准装置，其特征在于，所述m个电阻均为大功率低温漂限流电阻。

4.根据权利要求1所述的一种测试系统中供电通道的电流校准装置，其特征在于，所述VBIAS电源为可编程电压源，且能够支持正负双电源轨输出。

5.一种测试系统中供电通道的电流校准装置进行电流校正的方法，其特征在于，包括如下步骤：

S01：上位机选择其中一个连接开关和其中一个选择开关闭合；

S02：SPI总线调整对应供电通道的输出电压Va和VBIAS电源的输出电压Vb，并记录对应供电通道的输出电流Ia和电流表的测量电流Ib；

S03：根据上述测量数据绘制供电通道输出电压Va和测量误差A的曲线；所述测量误差A为供电通道的输出电流Ia与电流表的测量电流Ib之间的绝对差值；

S04：在供电通道输出电压范围内将曲线分为p个区间，并分别计算每个区间中的绝对误差；p为大于0的整数；

S05：特定供电通道输出电压下的电流值等于测量电流值与所述特定电压所在区间对应的绝对误差之和。

6.根据权利要求5所述的进行电流校正的方法，其特征在于，所述步骤S02具体包括：

S021：SPI总线调整对应供电通道的输出电压Va和VBIAS电源的输出电压Vb，使得Va-Vb＝x；并记录此时对应供电通道的输出电流Ia和电流表的测量电流Ib；其中，x大于0，且Ia为待校正电流值；

S022：重复步骤S021Y次，获得Y组对应供电通道的输出电流Ia和电流表的测量电流Ib；Y为大于0的整数。

7.根据权利要求6所述的进行电流校正的方法，其特征在于，所述步骤S03根据上述Y组数据绘制供电通道输出电压Va和测量误差A的曲线。

8.根据权利要求6所述的进行电流校正的方法，其特征在于，所述步骤S022中重复步骤S021Y次时，所述SPI总线设置对应供电通道的输出电压Va均匀递增或者均匀递减。

9.根据权利要求5所述的进行电流校正的方法，其特征在于，所述步骤S01具体包括：确定待校正电流值Ia和待校正的供电通道；所述上位机控制该供电通道对应的连接开关闭合；所述上位机根据待校正电流值Ia选择其中一个选择开关闭合。

10.根据权利要求9所述的进行电流校正的方法，其特征在于，所述步骤S01中待校正电流值Ia越大，上位机闭合的选择开关所连接的电阻值越小。