[发明专利]样本测定装置、样本测定方法以及喷嘴在审

专利信息
申请号: 202010197073.X 申请日: 2020-03-19
公开(公告)号: CN111721957A 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 久世雅人;芝正树;井上拓 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 杨永波
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 样本 测定 装置 方法 以及 喷嘴
【说明书】:

为了抑制喷嘴氧化并高精度地进行样本测定,本发明提供一种样本测定装置(100),其具有:喷嘴(21),前端侧的区域(21a)被疏水性覆膜(22)覆盖;测定部(10),测定通过喷嘴(21)向容器(131)分装的样本;驱动部(40),移动喷嘴(21)使其与容器(131)的底面(131a)抵接。其中,喷嘴(21)的排放口侧的前端面(21b)从疏水性覆膜(22)露出。

技术领域

本发明涉及样本测定装置、样本测定方法以及喷嘴。

背景技术

一直以来已知样本测定装置(比如参照专利文献1)。

如图16所示,上述专利文献1公开了一种具有将试样(样本)分装至容器的试样分装用探针(喷嘴)901的分析装置(样本测定装置)900。在该专利文献1的分析装置900中,试样分装用探针901针对不同的试样是通用的,因此每次分装试样时都要通过活性氧水溶液进行清洗。另外,为了抑制试样分装用探针901在清洗时被活性氧水溶液氧化,而在金属制探针902的表面形成疏水性处理膜903。

另外,一直以来,已知如专利文献2所述的为了高精度地分装少量的试样而在将喷嘴的前端推至容器的底面的状态下释放试样的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利特开2007-085930号;

专利文献2:实用新型注册第2513478号。

发明内容

发明要解决的技术问题

但是,如上述专利文献1所述的针对不同试样使用通用的试样分装用探针,并进行如上述专利文献2所述的在将试样分装用探针的前端推至容器的底面的状态下释放试样的分装时,试样分装用探针和容器的底面接触,因此有时试样分装用探针的疏水性处理膜会剥离。在试样分装用探针的疏水性处理膜剥离了的情况下,试样中会混入疏水性处理膜的剥离片,因此会产生难以高精度地进行试样测定的问题。另外,针对不同的试样使用通用的试样分装用探针时,每次分装试样时都需要进行试样分装用探针的清洗,因此在未形成疏水性处理膜时,会产生试样分装用探针易氧化的问题。这样一来,存在难以抑制试样分装用探针(喷嘴)氧化并高精度地进行试样(样本)测定的问题点。

本发明目的在于抑制喷嘴氧化并高精度地进行样本测定。

解决技术问题的技术手段

如图1所示,本发明第1技术方案的样本测定装置(100)具有:喷嘴(21),前端侧的区域(21a)被疏水性覆膜(22)覆盖;测定部(10),测定通过喷嘴(21)向容器(131)分装的样本;驱动部(40),移动喷嘴(21)使其与容器(131)的底面(131a)抵接,其中,喷嘴(21)的排放口侧的前端面(21b)从疏水性覆膜(22)露出。

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