[发明专利]一种基于微波谐振的薄膜检测方法在审
申请号: | 202010197451.4 | 申请日: | 2020-03-19 |
公开(公告)号: | CN111457868A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 徐程松;谢明;刘伟雄;张杨;曾来荣;肖伟 | 申请(专利权)人: | 绵阳人众仁科技有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02;G01N22/00;G01N22/04 |
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地址: | 621000 四川省绵阳市涪城区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 微波 谐振 薄膜 检测 方法 | ||
本发明公开了一种基于微波谐振的薄膜检测方法,属于薄膜生产领域。依次包括以下步骤:将同步传输框架运送到拉伸膜机的出膜处与收卷处之间,调整上微调架和下微调架的倾斜角度以及上导纸板与下导纸板之间的间隙,使上导纸板和下导纸板与待检测薄膜的输送倾斜角度相同,上谐振腔内的谐振发生器产生谐振频率并由下谐振腔内的谐振接收器接收,设置在同步传输框架上的控制板对发生改变的谐振频率参数进行实时显示和存储,并计算得出待检测薄膜的厚度、克重及水份浓度,本发明实现了薄膜物理参数动态测量,上谐振腔与下谐振腔的间隙和同轴度的微米级调节,并采用微波谐振方法同时测量薄膜厚度和水份浓度精度高,测量范围广。
技术领域
本发明涉及薄膜生产领域,具体涉及一种基于微波谐振的薄膜检测方法。
背景技术
为了确保薄膜生产高效、经济、高质量,生产中物理参数的动态测量非常重要。传统生产中薄膜物理参量动态监测使用两种方法检测,一种是辐射法,另一种是光学法。辐射法会对环境造成辐射污染,对生产人员造成伤害,生产成本增加;光学法虽无污染,但是检测范围和精度受限,很难满足生产需要。如何高效、经济、安全的满足薄膜生产中物理参数的动态测量,是制约薄膜生产的一项关键技术。尤其是满足智能生产需求尤为迫切。微波可以用于薄膜物理参数动态测量早有定论,而且很多文献报道,但用于生产实际中仅只有微波水份检测产品,其他未见报道。薄膜生产中,人们第一关心的物理参量是厚度或单位平方的重量,第二是水份浓度,目前薄膜生产中厚度的动态测量主要采用辐射法,少量采用光学法,薄膜厚度和水份浓度使用同一装置完成动态测量未见报道。
发明内容
本发明针对现有技术的不足,提出了一种基于微波谐振的薄膜检测方法,具体技术方案如下:
一种基于微波谐振的薄膜检测方法,依次包括以下步骤:
S1:将同步传输框架运送到拉伸膜机的出膜处与收卷处之间,并通过测距千分表使上谐振腔和下谐振腔处于同一条轴线上;
S2:调整上微调架和下微调架的倾斜角度以及上导纸板与下导纸板之间的间隙,使上导纸板和下导纸板与待检测薄膜的输送倾斜角度相同;
S3:将拉伸膜机出膜处的待检测薄膜起始端穿过薄膜检测间隙,并固定于拉伸膜机收卷处,然后启动拉伸膜机以及同步传输框架内的输送电机;
S4:输送电机驱动上微调架和下微调架沿薄膜机械进行同步往复运动,上谐振腔内的谐振发生器产生谐振频率并由下谐振腔内的谐振接收器接收,谐振接收器将接收到的谐振频率信号传输到控制板;
S5:设置在同步传输框架上的控制板对发生改变的谐振频率参数进行实时显示和存储,并计算得出待检测薄膜的厚度、克重及水份浓度。
作为优选,步骤(S2)中上导纸板与下导纸板之间的间隙由设置在下微调架内的涡轮传感器进行测量。
作为优选,步骤(S1)中同步传输框架顶端内侧和底端内侧均设有高精度基准面。
作为优选,高精度基准面的不平行度应小于±0.05mm。
作为优选,上谐振腔上端面与同步传输框架顶端内侧的高精度基准面之间的不平行度应小于0.1mm。
作为优选,下谐振腔下端面与同步传输框架底端内侧的高精度基准面之间的不平行度应小于0.1mm。
作为优选,步骤(S1)中上谐振腔和下谐振腔的不同轴度应小于0.1mm。
作为优选,步骤(S5)中控制板上设有显示屏,控制板计算得出的待检测薄膜厚度、克重及水份浓度均显示在显示屏上。
本发明具有以下有益效果:
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