[发明专利]基于光学分度头的测斜仪校准装置及校准方法有效

专利信息
申请号: 202010198751.4 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN111322986B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 张拥军;杨璐;陈勇;李婷;陈静 申请(专利权)人: 湖南省计量检测研究院
主分类号: G01C9/00 分类号: G01C9/00;G01C25/00
代理公司: 长沙智路知识产权代理事务所(普通合伙) 43244 代理人: 杨毅宇
地址: 410000 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 基于 光学 分度头 测斜仪 校准 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于光学分度头的测斜仪校准装置及校准方法,包括工作平台、设置于所述工作平台的光学分度头以及安装于所述光学分度头的旋转主轴的测斜仪装夹定位装置,所述测斜仪装夹定位装置包括安装于所述旋转主轴的安装板以及设置于所述安装板的上部的上测斜管和设置于所述安装板的下部的下测斜管,所述上测斜管和下测斜管各自包括相同的管体,所述管体的内侧表面上沿所述管体的圆周方向以90°依次间隔设置有用于固定被校准测斜仪的第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽。该校准装置旨在解决现有技术中的测斜仪校准装置误差大、结构复杂、操作繁琐且无法反应测斜仪的实际使用状态的技术问题。

技术领域

本发明涉及测斜仪校准领域,尤其涉及一种基于光学分度头的测斜仪校准装置及校准方法。

背景技术

测斜仪是用于测量预埋测斜管倾斜程度的精密仪器,可以实现X和Y两个方向的测量(X和Y方向互相垂直),测斜仪两个方向的量程均可达±60°。目前已有的测斜仪校准装置所采用的标准器有:光学分度头、陀螺仪、角光栅等。根据测斜仪的装夹方式总体可以划分为两类,其中一类装夹结构和方式都比较简单,只是实现了测斜仪的固定,实施校准时的X和Y方向没有清晰划分;另外一类的装夹机构和方式比较复杂,可以实现实施校准时的X和Y方向的清晰划分。现在技术缺陷基本如下:

1、已有校准装置的其中一类装夹结构和方式比较简单,只是实现了测斜仪的固定,其实施校准时的X和Y方向没有清晰的划分,所以当实施相应的校准时,容易造成测斜仪的安装不当从而存在较大的校准误差。

2、已有校准装置的另外一类装夹结构和方式比较复杂,可以实现X和Y方向的清晰划分,但是结构复杂,操作繁琐,自身重量也较大,实施校准时其自重都加载在标准器旋转主轴上,会加大其主轴的负载和磨损。

3、上述两类校准装置,在实施校准时,均不能反应测斜仪的实际使用状态。

发明内容

(一)要解决的技术问题

基于此,本发明提出了一种基于光学分度头的测斜仪校准装置,该基于光学分度头的测斜仪校准装置旨在解决现有技术中的测斜仪校准装置误差大、结构复杂、操作繁琐且无法反应测斜仪的实际使用状态的技术问题。

(二)技术方案

为解决上述技术问题,本发明提出了一种基于光学分度头的测斜仪校准装置,其中,包括工作平台、设置于所述工作平台的光学分度头以及安装于所述光学分度头的旋转主轴的测斜仪装夹定位装置,所述测斜仪装夹定位装置包括安装于所述旋转主轴的安装板以及设置于所述安装板的上部的上测斜管和设置于所述安装板的下部的下测斜管,所述上测斜管和下测斜管各自包括相同的管体,所述管体的内侧表面上沿所述管体的圆周方向以90°依次间隔设置有用于固定被校准测斜仪的第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽,所述第一定位槽和第三定位槽处于垂直于所述安装板的板面的平面,所述第二定位槽和第四定位槽处于平行于所述安装板的板面的平面,所述第二定位槽和第四定位槽对应被校准测斜仪的X方向,所述第一定位槽和第三定位槽对应被校准测斜仪的垂直于所述X方向的Y方向,所述安装板的板面垂直于所述旋转主轴的轴线,所述上测斜管的第三定位槽与所述下测斜管的第三定位槽之间的连接线还垂直于所述旋转主轴的轴线。

优选地,所述上测斜管通过上装夹组件设置于所述安装板上,所述下测斜管通过下装夹组件设置于所述安装板上,所述上装夹组件包括母V型座和子V型座,所述母V型座通过第一固定螺纹件连接于所述安装板,所述子V型座通过穿设于所述安装板的微调螺纹件可升降地安装于所述母V型座的开口中,所述母V型座的一侧穿设有第二固定螺纹件,所述第二固定螺纹件的端部能够压向所述子V型座以将所述子V型座固定于所述母V型座,所述上测斜管通过2个第一定位销安装于所述子V型座的开口中,所述2个第一定位销位于上测斜管的第三定位槽所在直线上,所述下装夹组件包括固定于所述安装板的下V型座,所述下测斜管通过2个第二定位销安装于所述下V型座的开口中,所述2个第二定位销位于下测斜管的第三定位槽所在直线上。

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