[发明专利]一种垂直腔面发射激光器在审
申请号: | 202010199273.9 | 申请日: | 2020-03-20 |
公开(公告)号: | CN111370996A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 王璐;王珈 | 申请(专利权)人: | 北京嘉圣光通科技有限公司 |
主分类号: | H01S5/183 | 分类号: | H01S5/183;H01S5/32;H01S5/323 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 刘亚飞 |
地址: | 100000 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 垂直 发射 激光器 | ||
1.一种垂直腔面发射激光器,其特征在于,包括:衬底、在衬底的正面依次外延生长的缓冲层、第一分布式布拉格反射镜、谐振腔、电绝缘介质掩膜层、p型电极、第二分布式布拉格反射镜;以及,在衬底的背面生长的电极;
谐振腔包括:下限制层、有源层、上限制层、电极接触层、P型离子注入层以及N型离子注入层,其中,
下限制层外延生长在第一分布式布拉格反射镜上;
有源层外延生长在下限制层的中心表面上;
P型离子注入层外延生长在蚀刻的下限制层和有源层两侧;
位于P型离子注入层上的N型离子注入层外延生长在蚀刻的有源层两侧;
上限制层外延生长在N型离子注入层和有源层上;
电极接触层外延生长在上限制层上;
电绝缘介质掩膜层外延生长在电极接触层上;
p型电极生长在以电绝缘介质掩膜层中心向下蚀刻,蚀刻至暴露电极接触层得到的蚀刻区域,生长的p型电极凸出电绝缘介质掩膜层;
第二分布式布拉格反射镜生长在以p型电极中心向下蚀刻,蚀刻至暴露电极接触层得到的蚀刻区域。
2.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述缓冲层包括:n型掺杂砷化镓缓冲层,其中,掺杂为掺硅,掺硅浓度是2.5×1018/cm3,厚度是200纳米。
3.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第一分布式布拉格反射镜为掺硅的n型渐变型分布式布拉格反射镜,包含一重复的38组渐变层组以及一层数为8的限制层,其中,每一渐变层组依次包含:
一外延生长在缓冲层上、铝含量从12%渐变到90%的铝镓砷层,掺杂浓度是2×1018/cm3,厚度是20纳米;
一铝含量为90%的铝镓砷层,掺杂浓度是2×1018/cm3,厚度是61纳米;
一铝含量从90%渐变到12%的铝镓砷层,掺杂浓度是2×1018/cm3,厚度是20纳米;以及,
一铝含量为12%的铝镓砷层,掺杂浓度是2×1018/cm3,厚度是51纳米。
4.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述下限制层不掺杂,包括:
一外延生长在第一分布式布拉格反射镜上、铝含量从60%渐变到30%的铝镓砷层,厚度是87纳米;以及,
一铝含量为30%的铝镓砷层,厚度是40纳米。
5.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述上限制层不掺杂,包括:
一外延生长在有源层上、铝含量为30%的铝镓砷层,厚度是40纳米;以及,
一铝含量从30%渐变到60%的铝镓砷层,厚度是87纳米。
6.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述电极接触层为p型重掺杂电极接触层,掺杂为掺碳,包括:
一外延生长在上限制层上、铝含量为90%的铝镓砷层,浓度是2.5×1018/cm3,厚度是180纳米;以及,
一铟镓磷层,浓度是1×1019/cm3,厚度是20纳米。
7.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述电绝缘介质掩膜层厚度是50纳米,包括:氮化硅层、氧化硅层。
8.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第二分布式布拉格反射镜包含重复的7组共14层结构,每一组包括:
一生长在极接触层的氧化硅层,厚度是170纳米;以及,
一氧化钛层,厚度是107纳米。
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