[发明专利]OTA性能测试系统

说明书

本发明提供一种OTA性能测试系统，包括：位于全电波暗室顶部的球面天线墙和侧壁的干扰天线、5G FR1及4G LTE MIMO OTA测试天线环；从球面天线墙中选择天线作为干扰天线，其他天线作为测量天线发射GNSS信号，位于侧壁的干扰天线模拟低仰角干扰源，完成GNSS抗干扰接收机及抗干扰天线性能测试，从球面天线墙选择相应天线作为测量天线，完成无源和/或有源天线阵列静态和准动态方向图性能测试、5G NR信道容量测试和干扰场景下的有源天线阵列自适应波束切换测试；天线环产生不同的信道环境，满足终端设备的MIMO OTA性能测试需求。该方案能完成5G终端设备的全频段全业务模式测试以及GNSS抗干扰测试。

技术领域

本发明涉及OTA测试技术领域，特别涉及一种OTA性能测试系统。

背景技术

无线通信技术的快速发展，无线网络的丰富应用带动了无线数据业务的迅猛增长。5G的研发及大规模商用，将成为产业界关注的热点。

Massive MIMO大规模阵列天线及毫米波频段新频谱的引入是5G实现频谱效率及系统容量大幅度提升的关键技术。大规模天线阵列在现有多天线基础上通过增加天线数可支持多个独立的空间数据流，将数倍提升多用户系统的频谱效率。在毫米波频段，采用相控阵列天线的形式，通过波束赋形技术，提高天线增益以补偿该频段的高路损。上述新技术的引进将对未来5G终端及基站设备的测试认证带来极大的挑战。

对于移动终端设备性能测试，目前现有的OTA(over the air，空中接口测试，作用是进行整机辐射性能方面的测试)暗室测试系统主要包括如下类型：

(1)4G LTE5G FR1 SISO OTA暗室测试系统；

(2)4G LTE5G FR1 SISOMIMO OTA暗室测试系统；

(3)5G FR2 SISO OTA暗室测试系统；

(4)5G FR1FR2 SISO OTA暗室测试系统。

可见，对于5G终端设备测试，目前现有OTA暗室测试系统功能较为单一，仅能进行单一频段(FR1，450MHz-7125MHz，又被称为Sub-6GHz，或者FR2，24250MHz-52600MHz，又称为Above-6GHz或毫米波)或单一业务模式(SISO，single input single output，单输入单输出/MIMO，Multi-input Multi-output，多输入多输出)组合测试。如果想要完成5G终端设备的全频段全业务模式测试，需要使用多套暗室测试系统，测试成本高昂，效率低下。且目前业内尚无面向Massive MIMO场景下的5G NR信道容量(RRM)测试以及干扰场景下的有源天线阵列自适应波束切换测试的测试环境，无法满足未来5G终端测试认证的需求。

发明内容

本发明实施例提供了一种OTA性能测试系统，包括：位于全电波暗室顶部的球面天线墙、位于全电波暗室中的5G FR1及4G LTE MIMO OTA测试天线环、位于全电波暗室侧壁的干扰天线；

所述球面天线墙包括有不同频段的天线阵列；

根据用户需求，从不同频段的天线阵列中选择相应的天线作为干扰天线施加干扰信号，从不同频段的天线阵列中选择相应的天线作为测量天线用于模拟GNSS卫星星座的空间分布发射GNSS信号，位于全电波暗室侧壁的干扰天线发射不同制式的干扰信号模拟低仰角干扰源，从而完成GNSS抗干扰接收机及抗干扰天线性能测试；

选择暗室顶部正中央位置天线作为单探头测量天线，通过单探头远场测试的方式，实现无源和/或有源天线阵列静态和准动态方向图性能测试；

根据不同信道模型场景，选择天线墙中特定位置的相应频段天线作为测量天线，完成Massive MIMO场景下的5G NR信道容量测试；