[发明专利]一种适用于电子产品的试验箱

说明书

本发明公开了一种适用于电子产品的试验箱，用于解决现有的适用于电子产品的试验箱只有单一方向的循环风，导致部分类型的电子产品无法被风吹到，造成试验结果产生偏差的技术问题。本发明中的箱体的第三侧面的外侧壁上安装有第一风道，第一风道内安装有循环风机以及制冷制热系统，第一风道靠近于第四侧面的位置开设有第一风口和第二风口，第一风口和第二风口均与箱体的内部相连通，第一风口和第二风口之间设置有第一转动开关；第一侧面靠近于第六侧面的位置安装有第二风道，第二风道的底部开设有第三风口和第四风口，第三风口和第四风口均与箱体的内部相连通，第三风口和第四风口之间设置有第二转动开关；第二风道开设有与第一风道连通的回风口。

技术领域

本发明涉及试验箱技术领域，尤其涉及一种适用于电子产品的试验箱。

背景技术

现有的电子产品(例如锂电池等等)在出厂前都需要经过各种各样的测试来确定电子产品的使用寿命，在电子产品的寿命测试中，要通过高温，低温，或温度循环的变化环境来确定部件循环的季节老化特征以及在变化环境条件影响下的老化特征。

通常试验中，电子产品部件要在不同的的情况下接受交替的温度考验，这时候通常使用的是高低温交变湿热适用于电子产品的试验箱，现有的这种适用于电子产品的试验箱一般通过对放置在箱体内部的电子产品施加循环的热风或冷风对电子产品进行试验，但是由于现有的适用于电子产品的试验箱只能够产生单一循环方向的风，对于某一些电子产品，上述的单一循环风可能吹不到电子产品或者只能吹到电子产品的其中一部分，从而造成该类型电子产品的试验结果不准确的技术问题。

因此，为解决上述的技术问题，寻找一种可以切换不同循环方向的风的适用于电子产品的试验箱成为本领域技术人员所研究的重要课题。

发明内容

本发明实施例公开了一种适用于电子产品的试验箱，用于解决现有的适用于电子产品的试验箱只有单一方向的循环风，导致部分类型的电子产品无法被风吹到，造成试验结果产生偏差的技术问题。

本发明实施例提供了一种适用于电子产品的试验箱，包括箱体；

所述箱体包括第一侧面、第二侧面以及依次围设于所述第一侧面和所述第二侧面之间的第三侧面、第四侧面、第五侧面以及第六侧面；

所述第三侧面的外侧壁上安装有第一风道，所述第一风道内安装有循环风机以及制冷制热系统，所述第一风道靠近于所述第四侧面的位置开设有并排设置的第一风口和第二风口，所述第一风口和所述第二风口均与所述箱体的内部相连通，所述第一风口和所述第二风口之间设置有用于关闭第一风口或第二风口的第一转动开关；

所述第一侧面靠近于所述第六侧面的位置安装有第二风道，所述第二风道的底部开设有并排设置的第三风口和第四风口，所述第三风口和所述第四风口均与所述箱体的内部相连通，所述第三风口和所述第四风口之间设置有用于关闭所述第三风口或第四风口的第二转动开关；所述第二风道开设有回风口，所述回风口与所述第一风道相连通。

可选地，所述第二风道设置于所述第一侧面的外侧壁上。

可选地，所述第二风道设置于所述第一侧面的内侧壁上。

可选地，所述第一转动开关和所述第二转动开关的结构相同；

所述第一转动开关和所述第二转动开关均包括挡板和可受驱转动的转轴；

所述挡板固定于所述转轴的一侧。

可选地，所述第三侧面的内侧壁、所述第四侧面的内侧壁、所述第一侧面的内侧壁以及所述第六侧面的内侧壁上均安装有通风板。

可选地，所述通风板上开设有多个通风孔。

可选地，所述制冷制热系统包括加热器和制冷器。

可选地，所述第五侧面上设置有门洞，所述门洞上设置有箱门。