[发明专利]一种高级在轨系统的集中式参数管理装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010201920.5 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN111404750B 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 朱浩文;罗唤霖;叶恒;穆文涛;伍伟;汪雪峰;陈乾;刘甡 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: H04L41/0803 分类号: H04L41/0803;H04L12/40
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 高级 系统 集中 参数 管理 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种高级在轨系统的集中式参数管理装置,其特征在于,包括:

1553B总线控制模块,连接外部1553B总线接口,接收地面上注的高级在轨系统参数,并将所述高级在轨系统参数发送给参数管理模块;

参数管理模块,根据不同应用场景,将所述高级在轨系统参数进行分组并编写组号,以分组的方式存储于参数存储模块中;当所述高级在轨系统上电或复位后,所述参数管理模块接收外部配置的组号,根据组号确定参数的读写地址空间,并将当前读写指针设置为所述读写地址空间的首地址;根据当前读写地址,按照三模冗余的方式,读取三份同一参数数据,对比所述三份同一参数数据,若完全一致,则将读取的参数输出至所述高级在轨系统相应的模块中;若不一致,则判定发生单粒子事件,需纠正单粒子效应造成的数据错误;

参数存储模块,以三模冗余的方式存储所述高级在轨系统参数,同一所述高级在轨系统参数存储三份,占用所述参数存储模块的三个存储地址;

其中,所述参数管理模块对所述参数存储模块进行时序控制,实现所述高级在轨系统参数的集中式管理。

2.如权利要求1所述的高级在轨系统的集中式参数管理装置,其特征在于,所述参数管理模块采用反熔丝FPGA芯片,所述参数存储模块采用EEPROM存储器;

所述参数管理模块对所述参数存储模块进行时序时序控制,包括逻辑层时序控制和物理层时序控制;

所述逻辑层时序控制响应于外部的读写请求,分别进行读时序控制和写时序控制;

所述物理层时序控制按照所述EEPROM存储器自身的存取要求,对地址、数据和控制信号进行时序控制,使所述参数管理模块能够正确地写入数据和读取数据。

3.如权利要求1所述的高级在轨系统的集中式参数管理装置,其特征在于,所述参数管理模块接收所述1553B总线控制模块的遥控指令,判别所述遥控指令的内容,并将所述遥控指令发送至所述高级在轨系统的各模块,定时采集各模块的遥测数据,将所述遥测数据组帧输出至所述1553B总线控制模块。

4.如权利要求1所述的高级在轨系统的集中式参数管理装置,其特征在于,所述高级在轨系统参数包括出厂参数和工作参数,所述参数存储模块包括出厂参数存储单元和工作参数存储单元;

所述出厂参数存储于所述出厂参数存储单元,所述工作参数存储于所述工作参数存储单元。

5.如权利要求4所述的高级在轨系统的集中式参数管理装置,其特征在于,所述参数管理模块接收所述1553B总线控制模块转发的工作参数更新包,将所述工作参数更新包写入所述工作参数储存单元,覆盖所述工作参数存储单元中原有的数据。

6.如权利要求5所述的高级在轨系统的集中式参数管理装置,其特征在于,所述参数管理模块接收所述1553B总线控制模块转发的恢复出厂设置指令,读取所述出厂参数存储单元中的出厂参数,并将所述出厂参数写入工作参数存储单元,覆盖所述工作参数存储单元中原有的数据。

7.一种高级在轨系统集中式参数管理方法,其特征在于,包括:

S1:读取外部配置接口的参数组号,根据组号确定所述参数的读写地址空间,并将当前读写指针设置为所述读写地址空间的首地址;

S2:根据当前读写地址,按照三模冗余的方式,读取三份同一参数数据,对比所述三份同一参数数据,若完全一致,则将读取的参数输出至所述高级在轨系统相应的模块中;若不一致,则判定发生单粒子事件,需纠正单粒子效应造成的数据错误;

S3:将读写指针加1,判断读写指针是否等于所述读写地址空间的末地址加1,若相等,则结束参数读取;若不相等,则转入步骤S2。

8.如权利要求7所述的高级在轨系统集中式参数管理方法,其特征在于,所述步骤S2进一步包括:

当所述三份同一参数数据均不一致时,任取其中一份参数数据回写到另两份参数数据对应的地址中,重新读取参数,将读取的参数输出至所述高级在轨系统相应的模块中;

当所述三份同一参数数据中有两份参数数据一致时,将一致的参数数据回写到不一致的参数数据对应的地址中,重新读取参数,将读取的参数输出至所述高级在轨系统相应的模块中。

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