[发明专利]一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法

权利要求书

1.一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于该方法包括以下步骤：

步骤①、选取一块晶界扩散类钕铁硼（3），去除该钕铁硼表面的油污；

步骤②、沿着晶界扩散方向切割钕铁硼，获得一截面（1）；

步骤③、在步骤②获得的截面（1）处选取合适大小位置，并沿晶界扩散方向切取整条片状样品或柱状样品；

步骤④、记录步骤③中切取样品的取样位置（2）；

步骤⑤、将步骤③中切取的样品先用去离子水清洗，再用丙酮或无水乙醇清洗；

步骤⑥、采用惰性气体或纯净压缩空气吹扫经步骤⑤清洗的样品表面；

步骤⑦、将经过步骤⑥表面吹扫过的样品保存于贮存容器中；

步骤⑧、将保存在贮存容器中的样品称量后，低温消解至溶液清亮状态，定容，待测，完成制样；

所述的步骤②中晶界扩散方向存在整体元素含量的成分分布不均匀情况，需从上到下整体切割；所述的步骤④中取样位置（2）为样品边缘到样品中心的中间位置，为控制样品质量只调整样品直径，切取样品要粗细均匀，并且要贯穿晶界扩散方向，不可只切取晶界扩散方向的一小段。

2.根据权利要求1所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤①中钕铁硼为采用晶界扩散工艺制备的钕铁硼，其制备方法包括磁控溅射法、表面涂覆法、电泳法、气相沉积法和真空蒸镀法，去除钕铁硼表面的油污用丙酮或无水乙醇。

3.根据权利要求2所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤①中晶界扩散类钕铁硼为渗镝、渗铽的重稀土元素钕铁硼材料。

4.根据权利要求1所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤②中切割方法采用线切割、锯切、砂轮切、内圆切。

5.根据权利要求1所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤③中切取整条片状样品或柱状样品的质量在200mg~500mg。

6.根据权利要求1所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤⑥中采用惰性气体或纯净压缩空气吹扫样品表面至干燥，吹扫时间为1min~5min。

7.根据权利要求1所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤⑦中贮存容器为洁净的烧杯，防止样品污染。

8.根据权利要求1所述的一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，其特征在于所述的步骤⑧中根据样品大小不同，低温消解时间为15min~30min。