[发明专利]一种电容器放电线圈直流电阻测试方法及设备

权利要求书

1.一种电容器放电线圈直流电阻测试方法，用于高压并联电容器装置中的放电线圈的直流电阻检测，所述高压并联电容器装置包括并联设置在电容器装置上的放电线圈；

其特征在于，包括：

测试接线步骤：将继电器控制电路的输出接口组的第一输出接口和第二输出接口分别接至放电线圈所在支路两端，形成测试主回路，将电流传感器钳制在所述测试主回路上；

测试控制步骤：处理器模块控制所述继电器控制电路的测试支路上的测试开关闭合，所述测试支路接入至所述测试主回路中，所述测试支路包括测试开关；

目标数据获取步骤：在精确模式下，处理器模块控制可调工作电源输出直流的可调电源电压U_S，所述可调电源电压U_S为所述继电器控制电路的输入接口组的输入电压，所述继电器控制电路的输出接口组的输出电压同为U_S；

所述电流传感器将所述测试主回路的电流I_f转化为实时反馈电压U_f回传至处理器模块；

处理器模块根据所述实时反馈电压U_f调节所述可调电源电压U_S，直至所述实时反馈电压U_f与数据表中第k组校正数据的校正电压U_pk相等；此时，所述可调电源电压U_S为目标电压U_S0，所述实时反馈电压U_f为目标反馈电压U_f0，在所述第k组校正数据中，所述校正电压U_pk所对应的校正电流I_pk为目标电流I_f0；

处理器模块得到一组目标数据，所述目标数据为{U_S0,U_f0,I_f0}；

测试计算步骤：处理器模块计算所述放电线圈的直流电阻

所述数据表包括n组校正数据{U_pi,I_pi,R_pi},i＝1,2,…,n，，其中，U_pi为第i组校正数据的校正电压，I_pi为第i组校正数据的校正电流，R_pi为第i组校正数据的校正电阻值，k∈{1,2,…,n}；

每一组所述校正数据表示在一个校正电阻两端施加对应的校正电压并通过计算得到的校正电流，所述校正电压和所述校正电阻为确认值，所述校正电流值反映所述电流传感器的实际电流大小；

所述数据表生成方法包括：

校正接线步骤：将继电器控制电路输出接口组的第一输出接口和第二输出接口短接，形成闭合的校正主回路，将电流传感器钳制在所述校正主回路上；

校正控制步骤：处理器模块控制继电器控制电路的n路校正支路中的第i路校正支路上的校正开关闭合，所述n路校正支路中的其余校正支路上的校正开关保持断开，所述第i路校正支路接入至所述校正主回路中，所述第i路校正支路包括校正电阻R_pi及相应的校正开关；

校正数据获取步骤：处理器模块控制可调工作电源输出直流的可调电源电压所述可调电源电压为所述继电器控制电路的输入接口组的输入电压，所述校正电阻R_pi两端电压为所述电流传感器将所述校正主回路的校正电流I_pi转化为实时反馈的校正电压U_pi回传至处理器模块；

校正计算步骤：处理器模块计算校正主回路的校正电流

得到第i组校正数据{U_pi,I_pi,R_pi}；

重复执行所述校正接线步骤、所述校正控制步骤、所述校正数据获取步骤和所述校正计算步骤，得到n组校正数据。