[发明专利]用于IGBT的GE电压检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010206389.0 申请日: 2020-03-23
公开(公告)号: CN113433377B 公开(公告)日: 2022-04-26
发明(设计)人: 陈正文;魏海山;梁玉;朱武;王晓年;孙康康;马龙昌;欧阳柳;杨乐乐;唐威;陈燕平;窦泽春 申请(专利权)人: 中车株洲电力机车研究所有限公司
主分类号: G01R19/165 分类号: G01R19/165;G01R31/26
代理公司: 北京聿华联合知识产权代理有限公司 11611 代理人: 朱绘
地址: 412001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 用于 igbt ge 电压 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于IGBT的GE电压检测装置,其特征在于,所述装置包含:

GE电压检测采样单元,其用于采集待检测IGBT的栅极电压VGE,对所述栅极电压VGE进行分压及滤波处理后得到比较输入信号Vge;

状态监测阈值设置单元,其用于设置所述待检测IGBT栅极GE电压的高电平阈值Vref1以及低电平阈值Vref2;

GE电压状态比较单元,其用于将所述比较输入信号Vge分别与所述高电平阈值Vref1以及所述低电平阈值Vref2进行比较,得到所述待检测IGBT栅极GE电压的高电平状态以及低电平状态;

GE电压状态转换单元,其用于对所述高电平状态以及所述低电平状态进行电平转换,得到高电平状态信号、中间电平状态信号以及低电平状态信号;

GE电压状态处理单元,其用于分别对所述高电平状态信号、所述中间电平状态信号以及所述低电平状态信号进行状态处理,得到高电平状态代码、中间电平状态代码以及低电平状态代码。

2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述GE电压检测采样单元包含:第一分压电路以及滤波电路。

3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述状态监测阈值设置单元包含:第二分压电路以及第三分压电路。

4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述GE电压状态比较单元包含:高电平阈值比较电路,其用于将所述比较输入信号Vge以及所述高电平阈值Vref1进行比较,得到所述高电平状态。

5.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述GE电压状态比较单元包含:低电平阈值比较电路,其用于将所述比较输入信号Vge以及所述低电平阈值Vref2进行比较,得到所述低电平状态。

6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述GE电压状态转换单元包含:第一状态转换电路,其用于对所述高电平状态进行电平转换,得到所述高电平状态信号。

7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述GE电压状态转换单元包含:第二状态转换电路,其用于对所述高电平状态以及所述低电平状态进行电平转换,得到所述中间电平状态信号。

8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述GE电压状态转换单元包含:第三状态转换电路,其用于对所述低电平状态进行电平转换,得到所述低电平状态信号。

9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述GE电压状态处理单元包含:

第一状态处理电路,其用于对所述高电平状态信号进行状态处理,得到所述高电平状态代码;

第二状态处理电路,其用于对所述中间电平状态信号进行状态处理,得到所述中间电平状态代码;

第三状态处理电路,其用于对所述低电平状态信号进行状态处理,得到所述低电平状态代码。

10.一种用于IGBT的GE电压检测方法,其特征在于,所述方法包含以下步骤:

采集待检测IGBT的栅极电压VGE,对所述栅极电压VGE进行分压及滤波处理后得到比较输入信号Vge;

设置所述待检测IGBT栅极GE电压的高电平阈值Vref1以及低电平阈值Vref2;

将所述比较输入信号Vge分别与所述高电平阈值Vref1以及所述低电平阈值Vref2进行比较,得到所述待检测IGBT栅极GE电压的高电平状态以及低电平状态;

对所述高电平状态以及所述低电平状态进行电平转换,得到高电平状态信号、中间电平状态信号以及低电平状态信号;

分别对所述高电平状态信号、所述中间电平状态信号以及所述低电平状态信号进行状态处理,得到高电平状态代码、中间电平状态代码以及低电平状态代码。

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