[发明专利]用于测试部件承载件同时防止变形的测试针对被测试部件承载件施加过多载荷的测试适配器

权利要求书

1.一种用于测试部件承载件(102)的测试设备(150)的测试适配器(100)，其中，所述测试适配器(100)包括：

至少一个测试针(106)；

引导结构(110)，所述引导结构用于将所述至少一个测试针(106)朝向待测试的部件承载件(102)的导电结构(108)引导；以及

保护结构(112)，所述保护结构被配置成防止变形的测试针(106)对所述部件承载件(102)施加过多的载荷。

2.根据权利要求1所述的测试适配器(100)，其中，所述至少一个测试针(106)被配置成能够相对于待测试的所述部件承载件(102)、朝向待测试的所述部件承载件(102)的所述导电结构(108)移动。

3.根据权利要求1或2所述的测试适配器(100)，其中，所述保护结构(112)包括腔体(114)，所述腔体被布置和设定尺寸为使得：变形的测试针(106)在所述腔体(114)中横向移位，从而防止所述变形的测试针(106)对所述部件承载件(102)施加过多的竖向载荷。

4.根据权利要求3所述的测试适配器(100)，其中，所述腔体(114)被布置和设定尺寸为防止所述变形的测试针(106)刮擦所述部件承载件(102)。

5.根据权利要求3或4所述的测试适配器(100)，其中，所述保护结构(112)包括环形壁(153)，所述环形壁在周向上完全地界定所述腔体(114)或在周向上部分地界定所述腔体。

6.根据权利要求3至5中任一项所述的测试适配器(100)，其中，所述引导结构(110)限定较窄的通道(120)，并且所述腔体(114)限定在公共本体(124)中的与所述较窄的通道(120)连接的较宽的凹部。

7.根据权利要求3至6中任一项所述的测试适配器(100)，其中，所述腔体(114)形成在结构化层(126)中，所述结构化层附接到所述引导结构(110)或包括所述引导结构。

8.根据权利要求3至7中任一项所述的测试适配器(100)，其中，所述腔体(114)具有一宽度(W)，所述腔体的宽度足够大，以机械地使所述变形的测试针(106)不能接触在横向上界定所述腔体(114)的侧壁(128)。

9.根据权利要求3至8中任一项所述的测试适配器(100)，其中，所述腔体(114)的宽度(W)与深度(D)之间的比为至少1.5，特别是至少2，更特别是至少2.5。

10.根据权利要求9所述的测试适配器(100)，其中，所述比不大于5，特别是不大于3.5，更特别是不大于3。

11.根据权利要求3至10中任一项所述的测试适配器(100)，其中，所述腔体(114)的宽度(W)为至少1.5mm，特别是至少2mm，更特别是至少2.5mm。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的测试适配器(100)，其中，所述变形的测试针(106)具有连接至成角度部分(118)的笔直部分(116)。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的测试适配器(100)，包括多个测试针(106)，特别是至少100个测试针(106)，更特别是至少1000个测试针(106)。

14.根据权利要求2至13中任一项所述的测试适配器(100)，所述测试适配器被配置成通过使所述至少一个测试针(106)在空间上保持固定、同时使所述部件承载件(102)朝向所述至少一个测试针(106)移动来执行相对移动。