[发明专利]一种忆阻器测试电路

权利要求书

1.一种忆阻器测试电路，其特征在于，包括输入模块、DAC、稳压模块、限流模块、换向控制模块、测量模块和ADC；其中，

输入模块为脉冲发生装置，用于设置DAC和ADC；

DAC的输出接稳压模块，稳压模块包括双极结型晶体管和第一放大器，第一放大器的反相输入端接DAC的输出，同相输入端接双极结型晶体管的发射极，第一放大器的输出端接双极结型晶体管的基极，双极结型晶体管的集电极接限流模块；

限流模块包括第一电位器、第二电位器、第一开关、第二开关、第一晶体管和第二晶体管；第二开关的一端接双极结型晶体管的集电极，第二开关的另一端接第二电位器的一端，第二电位器的另一端接第二晶体管的集电极，第二晶体管的发射极接第一晶体管的发射极，第一晶体管的基极与集电极互连，第一晶体管的集电极接第一开关的一端，第一开关的另一端接第一电位器的一端，第一电位器的另一端接地；

所述换向控制模块为H桥电路，将H桥电路四个开关定义为第四开关、第五开关、第六开关和第七开关，其中第四开关与第五开关在于同一侧，第六开关和第七开关位于同一侧；第四开关的一端与第六开关的一端连接，第四开关与第六开关的连接点与双极结型晶体管的发射极连接，第四开关的另一端与第五开关的一端连接，第五开关的另一端接地；第六开关的另一端与第七开关的一端连接，第七开关的另一端接地；第四开关与第五开关的连接点接忆阻器的一端，第六开关与第七开关的连接点接忆阻器的另一端；当第四开关和第七开关导通时，忆阻器为置位过程，第五开关和第六开关导通时，忆阻器为复位过程；

所述测量模块包括第二放大器、第三放大器、第四放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；第二放大器的同相输入端接双极结型晶体管的集电极，第二放大器的反相输入端接其输出端，第二放大器的输出端通过第一电阻后接第四放大器的反相输入端；第三放大器的同相输入端接第二电位器的另一端，第三放大器的反相输入端接其输出端，第三放大器的输出端通过第二电阻后接第四放大器的同相输入端；第二电阻与第四放大器同相输入端的连接点通过第四电阻后接地；第四放大器的反相输入端通过第三电阻后接其输出端，第四放大器的输出端接ADC，ADC的输出为测试电路的输出。

2.一种忆阻器测试电路，其特征在于，包括输入模块、DAC、稳压模块、限流模块、换向控制模块、测量模块和ADC；其中，

输入模块为脉冲发生装置，用于设置DAC和ADC；

DAC的输出接稳压模块，稳压模块包括双极结型晶体管和第一放大器，第一放大器的反相输入端接DAC的输出，同相输入端接双极结型晶体管的发射极，第一放大器的输出端接双极结型晶体管的基极，双极结型晶体管的集电极接限流模块；

限流模块包括第一电位器、第二电位器、第一开关、第二开关、第一晶体管和第二晶体管；第二开关的一端接双极结型晶体管的集电极，第二开关的另一端接第二电位器的一端，第二电位器的另一端接第二晶体管的集电极，第二晶体管的发射极接第一晶体管的发射极，第一晶体管的基极与集电极互连，第一晶体管的集电极接第一开关的一端，第一电位器的另一端接地；

所述换向控制模块为H桥电路，将H桥电路四个开关定义为第四开关、第五开关、第六开关和第七开关，其中第四开关与第五开关在于同一侧，第六开关和第七开关位于同一侧；第四开关的一端与第六开关的一端连接，第四开关与第六开关的连接点与双极结型晶体管的发射极连接，第四开关的另一端与第五开关的一端连接，第五开关的另一端接地；第六开关的另一端与第七开关的一端连接，第七开关的另一端接地；第四开关与第五开关的连接点接忆阻器的一端，第六开关与第七开关的连接点接忆阻器的另一端；当第四开关和第七开关导通时，忆阻器为置位过程，第五开关和第六开关导通时，忆阻器为复位过程；

所述测量模块包括第二放大器、第三放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；第一电阻的一端接双极结型晶体管的基极，第一电阻的另一端接第三放大器的反相输入端；第二放大器的同相输入端接双极结型晶体管的集电极，第二放大器的反相输入端接其输出端，第二放大器的输出端通过第二电阻后接第三放大器的同相输入端；第二电阻与第三放大器同相输入端的连接点通过第三电阻后接地；第三放大器的反相输入端通过第四电阻后接其输出端，第三放大器的输出端接ADC，ADC的输出为测试电路的输出。