[发明专利]RFID标签识别方法、装置、计算机设备及和存储介质

说明书

本申请涉及一种RFID标签识别方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：读取第一预设时间内的RFID标签集合的第一数据；根据所述第一数据进行识别，并获取识别出的RFID标签的数量；响应于根据所述第一数据未识别出全部RFID标签，则以第二预设时间为周期轮询读取的RFID标签集合的第二数据；根据每一周期的第二数据进行识别，以获取所述RFID标签集合的识别结果。本发明方法通过先以第一预设时间进行一次识别，而后再以第二预设时间进行轮询的方式识别，使得RFID标签的真实识别时间更接近理论识别时间，提高了识别效率。

技术领域

本申请涉及射频识别领域，尤其涉及一种RFID标签识别方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

射频识别是一种非接触式、低功耗的识别技术，近些年来被广泛用作为电子标签的粘贴于物品，以快速识别商品信息。然而受到环境、商品数量、甚至是商品属性的影响，不同的RFID标签的读写时间会有差异。现有的RFID标签的识别的方式是以固定时间为周期进行轮询扫描。

请参照图1所示，图1示了理想状态下识别时间与识别率的关系，但是在实际使用过程中标签的识别时间不能无限延长，也就是说现有的以固定时间为周期进行轮询扫描的方式进行标签识别需要耗费的时间较长，并且与标签的真实识别时间与理论识别时间相差较远，识别效率较长，亟需被改进。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题提供一种RFID标签识别方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种RFID标签识别方法，所述方法包括：

读取第一预设时间内的RFID标签集合的第一数据；

根据所述第一数据进行识别，并获取识别出的RFID标签的数量；

响应于根据所述第一数据未识别出全部RFID标签，则以第二预设时间为周期轮询读取的RFID标签集合的第二数据；

根据每一周期的第二数据进行识别，以获取所述RFID标签集合的识别结果。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

利用RFID标签集合样本进行轮询识别训练，并获取每个轮询周期的识别率，其中，所述轮询识别训练的轮询周期小于所述第一预设时间；

根据每个轮询周期的识别率确定所述第一预设时间和所述第二预设时间

根据每个轮询周期的识别率确定以第二预设时间为周期轮询读取RFID标签集合的次数。

在其中一个实施例中，所述根据每个轮询周期的识别率确定所述第一预设时间和所述第二预设时间的步骤包括：

响应于某一轮询周期的识别率大于等于第一预设值，则将某一轮询周期的持续时间作为第一预设时间；

将所述某一轮询周期以后的轮询周期的识别率与所述第一预设时间时的识别率进行比较；

响应于某一轮询周期以后的另一轮询周期的识别率大于所述第一预设时间时的识别率，则将另一轮询周期持续时间与所述第一预设时间相减，以得到第二预设时间。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

根据每个轮询周期的识别率确定所述RFID标签集合样本识别完成时间，所述识别完成时间为识别率第一次达到百分之百的轮询周期的持续时间；

根据所述识别完成时间和所述第二预设时间确定以第二预设时间为周期轮询读取RFID标签集合的次数。

在其中一个实施例中，利用公式一计算读取第二预设时间内的RFID标签集合的次数；