[发明专利]基于电离层观测数据的GNSS掩星电离层误差修正方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010211937.9 申请日: 2020-03-24
公开(公告)号: CN111323798B 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 柳聪亮;孙越强;杜起飞;白伟华;王先毅;蔡跃荣;孟祥广;夏俊明;王冬伟;李伟;吴春俊;刘成;赵丹阳 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01S19/40 分类号: G01S19/40
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;杨青
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 电离层 观测 数据 gnss 误差 修正 方法 系统
【说明书】:

发明公开了基于电离层观测数据的GNSS掩星电离层误差修正方法及系统,该方法包括:获取GNSS掩星几何数据和电离层数据;计算掩星事件切点位置处的电子密度廓线;基于GNSS掩星几何数据和电子密度廓线,计算双频弯曲角差值廓线;判断L2信号数据是否能用于一阶项无电离层线性组合;若为是,基于L1信号数据和L2信号数据计算初始弯曲角廓线,利用二阶项电离层残余误差对初始弯曲角廓线进行修正,获取修正后的弯曲角廓线;否则,基于L1信号数据计算初始弯曲角廓线,利用弯曲角电离层误差廓线对初始弯曲角廓线进行修正,获取修正后的弯曲角廓线。本发明的方法能够修正GNSS大气掩星二阶电离层残余误差,提高弯曲角廓线的精度。

技术领域

本发明涉及GNSS无线电掩星大气探测技术和气象学领域,具体涉及基于电离层观测数据的GNSS掩星电离层误差修正方法及系统。

背景技术

GNSS(Global Navigation Satellite System)掩星探测技术,可获取高垂直分辨率、高精度、无需标定、长期稳定、全天候的中性大气折射率、密度、温度、湿度和压强等物理参数的垂直廓线,为全球气候监测和数值天气预报提供了大量的大气探测资料。然而,电离层误差一直是制约GNSS大气掩星资料高精度应用的瓶颈。目前,GNSS大气掩星探测技术均采集L1和L2双频信号观测值,用弯曲角双频线性组合法进行电离层改正,其中L1信号频率大于L2信号频率,具有较强的大气穿透能力,易于捕获和跟踪。在GNSS大气掩星数据资料气候气象应用中,其电离层误差修正主要存在以下两个方面的问题:(1)在物理环境较复杂,水汽较大的低层大气,L2掩星信号难以捕获和跟踪,导致低层大气L2掩星观测数据质量很差甚至缺失,从而无法用弯曲角双频组合法进行电离层误差改正。(2)距离电离层越来越近的中高层大气(25–65km高度范围)电离层残余误差逐渐增大,致使其大气掩星数据精度已不能满足气候气象应用的要求。

随着GNSS遥感技术的发展,地基GNSS遥感和GNSS电离层掩星探测可提供GlobalIonosphere Maps(GIM)和电离层电子密度廓线等电离层数据产品。尤其是一些兼容中性大气和电离层探测的掩星计划如CHAMP、COSMIC和FY-3C/-3D GNOS等,同一个掩星事件可同时探测中性大气和电离层电子密度廓线。使基于GNSS遥感电离层数据产品的GNSS中性大气电离层误差改正成为可能。

综上所述,低层大气L2掩星观测数据质量差致使双频弯曲角去电离层线性组合难以实施,以及中高层大气电离层残余误差是制约GNSS大气掩星资料高精度应用的主要瓶颈。GNSS遥感电离层数据产品质量的提高和应用为解决GNSS大气掩星电离层问题带来了契机。

发明内容

本发明的目的在于解决低层大气L2掩星观测数据质量差或缺失、中高层大气电离层残余误差大等问题,从而挖掘GNSS大气掩星数据产品的潜在应用价值,提供一种基于地基GNSS遥感和GNSS掩星探测的电离层数据产品的GNSS大气掩星探测资料的电离层残余误差修正方法。

为实现上述目的,本发明提出了基于电离层观测数据的GNSS掩星电离层误差修正方法,所述方法包括:

对GNSS大气掩星原始观测数据、地基GNSS遥感和GNSS电离层掩星观测数据进行预处理,获取GNSS掩星几何数据和电离层数据;

基于GNSS掩星几何数据和电离层观测数据,计算掩星事件切点位置处的电子密度廓线;或者基于GNSS掩星几何数据和和地基GNSS电离层遥感数据,结合电离层模式,计算掩星事件切点位置处的电子密度廓线;

基于GNSS掩星几何数据和电子密度廓线,计算双频弯曲角差值廓线;

基于双频弯曲角差值廓线,判断L2信号数据是否能用于一阶项无电离层线性组合;若为是,基于L1信号数据和L2信号数据计算初始弯曲角廓线,利用二阶项电离层残余误差对初始弯曲角廓线进行修正,获取修正后的弯曲角廓线;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院国家空间科学中心,未经中国科学院国家空间科学中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010211937.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top