[发明专利]基于光纤结构的倾角测量仪及系统在审

专利信息
申请号: 202010213169.0 申请日: 2020-03-24
公开(公告)号: CN111322990A 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 西安柯莱特信息科技有限公司
主分类号: G01C9/10 分类号: G01C9/10;G01H9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710000 陕西省西安市高新区高*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 光纤 结构 倾角 测量仪 系统
【权利要求书】:

1.一种基于光纤结构的倾角测量仪,所述倾角测量仪包括:输入光纤、腔室和输出光纤,其中,所述光源的输出端与所述输入光纤相连,所述输入光纤的输出端与所述腔室相连,所述腔室的输出端与所述输出光纤相连,其特征在于,所述腔室内设有移动部,所述移动部用于在震动的作用下发生位移。

2.如权利要求1所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述腔室为球形或椭球形,所述移动部为球形。

3.如权利要求2所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述移动部材料为水银、二氧化硅和金中至少一种。

4.如权利要求2所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述腔室具有沿所述输入光纤和所述输出光纤的连接线轴对称。

5.如权利要求2所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述输入光纤和输出光纤的直径相等。

6.如权利要求3-5任一项所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述移动部的体积大于等于腔室体积的1/10,小于等于腔室体积的3/10。

7.如权利要求6任一项所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述腔室的材料为二氧化硅。

8.如权利要求7所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,在所述腔室的外部包覆有金属薄膜,所述金属薄膜的厚度大于100纳米。

9.如权利要求8所述的基于光纤结构的倾角测量仪,其特征在于,所述腔室与所述输出光纤的连接位置为水平面。

10.一种基于光纤结构的倾角测量仪系统,其特征在于,所述系统包括:光源、探测器和权利要求1-9任意一项所述的倾角测量仪,其中,所述光源的输出端与输入光纤相连,所述输出光纤的输出端与探测器相连。

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