[发明专利]一种检验镀膜玻璃吸盘印的方法及镀膜玻璃

说明书

本申请属于玻璃检验技术领域，尤其涉及一种检验镀膜玻璃吸盘印的方法及镀膜玻璃，方法包括以下步骤：S1：将玻璃原片置于具有第一预设温度的环境中；S2：将检测液置于具有第二预设温度的环境中保温处理，第一预设温度低于第二预设温度，且第一预设温度和第二预设温度的温差为20℃～25℃；S3：将检测液喷涂至玻璃原片表面：S4：当玻璃原片表面观察到吸盘印时，对玻璃原片的表面进行清洁处理，重复步骤S3，直至玻璃原片的表面观察不到吸盘印；当玻璃原片的表面观察不到吸盘印时，对玻璃原片镀膜。这样便确保在玻璃原片镀膜之前，其表面不会有吸盘印残留，从而提升了镀膜玻璃的成品率和品质感，也降低了镀膜玻璃的返工率和制造成本。

技术领域

本申请属于玻璃检验技术领域，尤其涉及一种检验镀膜玻璃吸盘印的方法及镀膜玻璃。

背景技术

用于制造镀膜玻璃的玻璃原片在镀膜玻璃的生产过程中，需要通过吸盘在各个工序之间运输，吸盘吸附于玻璃原片时，会在玻璃原片上形成有不易被观察到的吸盘印，在镀膜前，需要对玻璃原片进行清洁，以避免镀膜玻璃存在吸盘印。

由于吸盘印不易被观察到，因此在清洁过程中，会存在玻璃原片上的吸盘印没有被彻底清除的现象，这样镀膜后形成的镀膜玻璃便由于存在吸盘印而不得不被废弃。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种检验镀膜玻璃吸盘印的方法及镀膜玻璃，旨在解决现有技术中的镀膜玻璃在镀膜后存在吸盘印的技术问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：一种检验镀膜玻璃吸盘印的方法，包括以下步骤：

S1：提供玻璃原片，将所述玻璃原片置于具有第一预设温度的环境中；

S2：提供检测液，将所述检测液置于具有第二预设温度的环境中保温处理，所述第一预设温度低于所述第二预设温度，且所述第一预设温度和所述第二预设温度的温差为20℃～25℃；

S3：将完成所述保温处理的所述检测液雾化处理，并将雾化处理后的所述检测液均匀喷涂至所述玻璃原片的表面：

S4：观察喷涂有所述检测液的所述玻璃原片的表面，当所述玻璃原片表面观察到吸盘印时，对所述玻璃原片的表面进行清洁处理，重复所述步骤S3，直至所述玻璃原片的表面观察不到所述吸盘印；

当所述玻璃原片的表面观察不到所述吸盘印时，对所述玻璃原片进行镀膜处理。

可选地，在所述步骤S1中，所述第一预设温度为18℃～22℃。

可选地，在所述步骤S2中，所述第二预设温度为38℃～47℃。

可选地，在所述步骤S2中，所述第一预设温度和所述第二预设温度的温差为21℃～23℃。

可选地，在所述步骤S2中，所述保温处理的保温时间为10min～30min。

可选地，所述保温处理的保温时间为21min～25min。

可选地，所述检测液为水液或洗涤液。

可选地，在所述步骤S3中，所述雾化处理为加热雾化处理，所述加热雾化处理的加热温度为40℃～50℃。

可选地，在所述步骤S4中，所述清洁处理包括以下步骤：

S41：利用湿润的抛光布对所述玻璃原片表面具有吸盘印的位置进行多次旋转抛光处理；

S42：利用干燥的抛光布对所述玻璃原片表面具有吸盘印的位置进行旋转抛光处理。