[发明专利]光谱检测装置及其检测方法

说明书

一种光谱检测装置及其检测方法，光谱检测装置包括光路产生组件以及光谱仪，光路产生组件产生用于对待检测样品检测的实时测量光路、用于实现波长校准的波长校准光路和/或用于实现背景光校准的背景光校准光路，光谱仪用于接收并检测来自光路产生组件的实时测量光路、波长校准光路和/或背景光校准光路。光谱检测装置的检测方法包括：波长校准步骤、暗电流校准步骤、背景光校准步骤以及实时测量步骤。这种光谱检测装置及其检测方法，可以修正背景干扰和/或波长漂移带来的影响，提高检测精度和可靠性。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种光谱检测装置及其检测方法。

背景技术

光谱检测是一种在科研和生产中广泛采用的技术。随着光谱检测技术水平的提升，以及近年来在食品检测和环境监测等多个领域对光谱检测装置需求的增加，光谱检测装置行业规模将不断扩大。

现有的光谱检测装置无法进行背景光校准或波长校准，无法修正背景干扰或波长漂移带来的影响，导致检测精度和可靠性不高。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的光谱检测装置及其检测方法。

根据本发明的一个方面，提供了一种光谱检测装置，包括：光路产生组件，配置成产生用于对待检测样品检测的实时测量光路、用于实现波长校准的波长校准光路和/或用于实现背景光校准的背景光校准光路；光谱仪，用于接收并检测来自所述光路产生组件的所述实时测量光路、所述波长校准光路和/或所述背景光校准光路。

可选地，所述光谱检测装置还包括：光纤，设置于所述光路产生组件与所述光谱仪之间，且所述光谱仪通过所述光纤接收来自所述光路产生组件的所述实时测量光路、所述波长校准光路和/或所述背景光校准光路；光路切换组件，具有仅使所述实时测量光路经所述光纤进入所述光谱仪的实时测量状态、仅使所述波长校准光路经所述光纤进入所述光谱仪的波长校准状态和/或仅使所述背景光校准光路经所述光纤进入所述光谱仪的背景光校准状态。

可选地，所述光路产生组件包括：检测光源，配置成在所述光路切换组件处于所述实时测量状态时发出光线；反光件，配置成在所述光路切换组件处于所述实时测量状态时将由所述检测光源发出的光线反射至所述待检测样品，以被所述待检测样品吸收；第一反射镜，配置成在所述光路切换组件处于所述实时测量状态时将所述待检测样品漫反射的光线反射入所述光纤；所述检测光源、所述反光件以及所述第一反射镜用于产生所述实时测量光路。

可选地，所述反光件为设置于所述检测光源背离所述待检测样品的一侧的反光杯，所述反光杯的凹面朝向所述检测光源。

可选地，所述检测光源还配置成在所述光路切换组件处于所述背景光校准状态时发出光线；所述反光件还配置成在所述光路切换组件处于所述背景光校准状态时反射由所述检测光源发出的光线；所述光谱检测装置还包括：第二反射镜，配置成在所述光路切换组件处于所述背景光校准状态时将所述反光件反射的光线反射入所述光纤；所述检测光源、所述反光件以及所述第二反射镜用于产生所述背景光校准光路。

可选地，所述光路产生组件还包括：校准光源，配置成在所述光路切换组件处于所述波长校准状态时发出光线；半反半透镜，配置成在所述光路切换组件处于所述波长校准状态时将所述校准光源发出的光线反射入所述光纤；所述校准光源、所述半反半透镜用于产生所述波长校准光路。

可选地，所述校准光源为在所述待检测样品所需要检测的波段有稳定的特征谱线的光源。

可选地，所述光纤为Y型光纤，所述Y型光纤具有第一接收端、第二接收端以及输送端；所述第一接收端配置成在所述光路切换组件处于所述实时测量状态时接收来自所述实时测量光路的光线；所述第二接收端配置成在所述光路切换组件处于所述波长校准状态时用于接收来自所述波长校准光路的光线，并在所述光路切换组件处于所述背景光校准状态时用于接收来自所述背景光校准光路的光线；所述输送端用于将所述第一接收端以及所述第二接收端接收到的光线输送至所述光谱仪。