[发明专利]一种外切型光纤弯曲半径测量尺及其测量方法

权利要求书

1.一种外切型光纤弯曲半径测量尺，其特征在于：包括带有刻度的环形尺、固定尺板及活动尺板，其中环形尺的中部固装有转轴，转轴的侧壁上制有光纤限位槽，该转轴上固定套装固定尺板，且转轴上转动套装活动尺板；所述固定尺板及活动尺板的自由端均固装有定位光纤的U型卡，且固定尺板及活动尺板的中部均穿透安装环形尺。

2.根据权利要求1所述的一种外切型光纤弯曲半径测量尺，其特征在于：所述固定尺板及活动尺板的一端均一体制出有U型连接臂，该U型连接臂的内部穿透安装环形尺；所述固定尺板端部的U型连接臂与转轴固定连接，活动尺板端部的U型连接臂与转轴旋转连接。

3.根据权利要求1所述的一种外切型光纤弯曲半径测量尺，其特征在于：所述环形尺包括环型尺板及多个扇形连接片，其中扇形连接片的外圆均与环形尺板的内壁固定连接，扇形连接片的内圆均与转轴固定连接。

4.一种如权利要求1所述的外切型光纤弯曲半径测量尺的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一：将光纤的中部固定搭接在转轴的光纤限位槽内，而后将光纤的两端卡入到固定尺板及活动尺板自由端上的U型卡内部，此时固定尺板应与活动尺板共线；

步骤二；在光纤的两端记录标记点，并分别读取两个标记点分别位于固定尺板与活动尺板上的刻度度数；

步骤三：手持固定尺板及活动尺板逐渐弯折光纤，直至光纤无法继续弯折为止，此时再次读取两个标记点分别位于固定尺板与活动尺板上的刻度度数，并读取环形尺板上的角度度数；

步骤四：通过步骤二及步骤三分别计算固定尺板与活动尺板上光纤标记点的位移差x，并利用公式r＝x·tanα计算光纤的弯曲半径。

5.根据权利要求4所述的外切型光纤弯曲半径测量尺的测量方法，其特征在于：所述步骤四的公式r＝x·tanα中，r为光纤的弯曲半径，a为环形尺板上的角度度数的一半，x为光纤直线状态与光纤弯折状态，其两端标记点的位移量。

6.根据权利要求4所述的外切型光纤弯曲半径测量尺的测量方法，其特征在于：所述步骤四进行完成后还应进行误差判定，设固定尺板上光纤标记点位移量为x₁，活动尺板上光纤标记点位移量为x₂，若x₁＝x₂则判定为测量准确，否则调松U型卡与光纤外壁的贴合力再重复步骤二至步骤四。