[发明专利]一种无源低功耗的微波检测方法在审
申请号: | 202010220940.7 | 申请日: | 2020-03-26 |
公开(公告)号: | CN111487475A | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 张敏昊;宋凤麒;曹路;张同庆 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;B82Y40/00;B82Y30/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈建和 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 无源 功耗 微波 检测 方法 | ||
1.一种无源低功耗的微波检测方法,其特征是,检测用反铁磁拓扑绝缘体层包括反铁磁拓扑绝缘体层、设置在本征的反铁磁拓扑绝缘体层上的一对分离的电极层;所述反铁磁拓扑绝缘体层为反铁磁材料的薄膜、纳米片或纳米线;所述反铁磁拓扑绝缘体层为拓扑绝缘体材料的薄膜、纳米片或纳米线;结合其反铁磁原子层+拓扑表面态两者特性,在微波能量下,反铁磁层具有在微波能量下的产生自旋流的特性;反铁磁拓扑绝缘体层中自旋发生进动产生自旋流,拓扑表面态具有将自旋流在表面上自发产生定向的电荷流;通过电极检测表面态中的这一定向的电荷流,实现微波作用条件的无源低功耗探测。
2.根据权利要求1所述的一种无源低功耗的微波检测方法,其特征在于,1个反铁磁原子层/拓扑表面态层(即反铁磁拓扑绝缘体层)的双层结构在微波能量下形成定向电荷流I;或n个反铁磁原子层/拓扑表面态的双层结构在微波能量下形成定向电荷流n*I,微波检测灵敏度能成倍地增加;n取2-3000。
3.根据权利要求1和2所述的一种无源低功耗的微波检测方法,其特征在于,能够制备任意层的反铁磁拓扑绝缘体层或任意个反铁磁原子层/拓扑表面态的双层结构,反铁磁原子层/拓扑表面态层为MnBi2Te4。
4.根据权利要求3所述的一种无源低功耗的微波检测方法,其特征在于,检测用反铁磁拓扑绝缘体层的制备步骤,先获得反铁磁拓扑绝缘体单晶:通过高温熔融法获得。将Mn、Bi、Te的粉末按1:2:4的原子比例放入石英管,再将石英管垂直放入马弗炉中,通过12小时升到950摄氏度,在950摄氏度保持12小时,再通过3000分钟降到585摄氏度,保持24小时后,降到室温,得到MnBi2Te4;
任意层MnBi2Te4的反铁磁拓扑绝缘体层或任意个反铁磁原子层/拓扑表面态层的双层结构通过分子束外延、机械剥离法、高温熔融法、脉冲激光沉积或化学气相沉积等方法形成。
5.根据权利要求3所述的一种无源低功耗的微波检测方法,其特征在于,反铁磁拓扑绝缘体层、反铁磁原子层和拓扑表面态层是块材、薄膜、纳米片或纳米线;包括反铁磁层2和拓扑绝缘体层3的异质结构、设置在反铁磁层2和拓扑绝缘体层3的异质结构上的一对分离的电极层4。
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