[发明专利]一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质

权利要求书

1.一种软件缺陷预测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：获得原始缺陷数据集；

S2：获得类分布平衡的缺陷数据集，所述类分布平衡的缺陷数据集，通过过采样所述原始缺陷数据集中的少数类样本后得到；

S3：构建软件缺陷预测模型。

2.根据权利要求1所述的一种软件缺陷预测方法，其特征在于，步骤S1中，所述原始缺陷数据集选自经过预处理的软件缺陷数据集。

3.根据权利要求2所述的一种软件缺陷预测方法，其特征在于，所述预处理包括以下步骤：

(1)采用平均值填充方法对原始数据集中的缺失值进行处理，得到无缺失值的缺陷数据集；

(2)使用最大最小标准化方法对步骤(1)得到的无缺失值的缺陷数据集进行归一化处理，使特征值处于同一数量级。

4.根据权利要求1所述的一种软件缺陷预测方法，其特征在于，步骤S2中，过采样的方法为少数类过采样方法。

5.根据权利要求1所述的一种软件缺陷预测方法，其特征在于，步骤S3中，软件缺陷预测模型的构建方法为集成学习方法。

6.根据权利要求5所述的一种软件缺陷预测方法，其特征在于，所述集成学习方法包括Bagging方法。

7.一种软件缺陷预测装置，其特征在于，所述装置包括用于执行如权利要求1～6任一项所述的软件缺陷预测方法的单元。

8.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述处理器被配置用于调用所述程序指令，执行如权利要求1～6任一项所述的软件缺陷预测方法。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1～6任一项所述的软件缺陷预测方法。