[发明专利]内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量方法及系统有效
申请号: | 202010223892.7 | 申请日: | 2020-03-26 |
公开(公告)号: | CN111288913B | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 秦学军;杨军;张德志;史国凯;马艳军;程帅;胡华权 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究院 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 汪海艳 |
地址: | 710024 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内部 爆炸 作用 双层 变形 接触 测量方法 系统 | ||
1.一种内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、在外层筒沿其径向开设至少一个通孔,使得通孔位置对应的内层筒暴露;
步骤2、将第一激光位移干涉仪的探头固定在内层筒测点处,所述内层筒测点位于所述通孔正上方设定距离处,与通孔一一对应;将第二激光位移干涉仪的探头固定在外层筒测点处,所述外层筒测点至少为一个,距外层筒外壁面具有设定距离,所述第二激光位移干涉仪与外层筒测点一一对应;
步骤3、引爆炸药,记录起爆时刻及第一激光位移干涉仪与第二激光位移干涉仪的初始值;
炸药引爆后,爆炸冲击波作用在内层筒的内壁面上,内层筒在爆炸冲击波作用下开始膨胀,引起内层筒的变形,通过第一激光位移干涉仪实时测得内层筒外壁面径向位移信息;当内层筒外壁面与外层筒内壁面接触碰撞后,引起外层筒的变形,通过第二激光位移干涉仪实时测得外层筒外壁面径向位移信息;
步骤4、根据起爆时刻、第一激光位移干涉仪与第二激光位移干涉仪的初始值及第一激光位移干涉仪测得的整个爆炸过程中的内层筒外壁面径向位移信息与第二激光位移干涉仪测得的整个爆炸过程中的外层筒外壁面径向位移信息,同时得到内层筒及内层筒外壁面与外层筒内壁面接触碰撞后外层筒的径向变形过程。
2.根据权利要求1所述的内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量方法,其特征在于:内层筒测点与内层筒外壁面之间的距离大于内层筒外壁面最大径向位移;
外层筒测点与外层筒外壁面之间的距离大于外层筒外壁面最大径向位移。
3.根据权利要求2所述的内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量方法,其特征在于:步骤2中,当包括多个内层筒测点时,多个内层筒测点依次均布在距外层筒设定距离的一半周面上;
将多个第一激光位移干涉仪同一时刻记录值的平均值作为此时刻内层筒外壁面径向位移值。
4.根据权利要求3所述的内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量方法,其特征在于:步骤2中,当包括多个外层筒测点时,多个外层筒测点依次位于与多个内层筒测点同一周面的另一半周面上;
将多个第二激光位移干涉仪同一时刻记录值的平均值作为此时刻外层筒外壁面径向位移值;
或外层筒测点与内层测点间隔设置。
5.根据权利要求1-4任一所述的内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量方法,其特征在于:所述内层筒测点与外层筒测点沿爆心环面设置。
6.一种内部爆炸作用下双层筒变形的非接触测量系统,其特征在于:包括沿径向开设在外层筒的至少一个通孔,设置在双层筒轴线上的爆炸物,起爆装置,至少一个第一激光位移干涉仪,至少一个第二激光位移干涉仪,至少一个第一信号记录设备及至少一个第二信号记录设备;其中通孔、第一激光位移干涉仪及第一信号记录设备的数量一一对应;
所述起爆装置的输出分别与爆炸物、第一信号记录设备及第二信号记录设备连接,用于使爆炸物起爆并输出触发信号至第一信号记录设备与第二信号记录设备;
所述第一激光位移干涉仪,包括置于内层筒测点处的第一探头,所述内层筒测点位于所述通孔正上方设定距离处,与通孔一一对应;炸药引爆后,爆炸冲击波作用在内层筒的内壁面上,内层筒在爆炸冲击波作用下开始膨胀,引起内层筒的变形,通过第一激光位移干涉仪实时测得内层筒外壁面径向位移信息;所述第二激光位移干涉仪包括置于外层筒测点处的第二探头,所述外层筒测点距外层筒外壁面具有设定距离,所述第二激光位移干涉仪与外层筒测点一一对应;当内层筒外壁面与外层筒内壁面接触碰撞后,引起外层筒的变形,通过第二激光位移干涉仪实时测得外层筒外壁面径向位移信息;
所述第一信号记录设备用于记录第一激光位移干涉仪的输出;所述第二信号记录设备用于记录第二激光位移干涉仪的输出。
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