[发明专利]检测单元有效

专利信息
申请号: 202010225545.8 申请日: 2020-03-26
公开(公告)号: CN111746638B 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 藤田敏博 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: B62D15/02 分类号: B62D15/02;H02K11/215;H02K11/30;H02K11/33
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;杨林森
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 单元
【说明书】:

一种检测单元,具有用于检测根据磁体(875)的旋转引起的磁场变化的检测元件(141、142、241、242)以及用于根据检测元件检测到的物理量计算角度信号(DA1、DB1、DA2、DB2)的角度计算器(151、152、251、252)。此外,存储器(175)存储用于校正角度信号(DA1)的检测误差的多个校正值(A11、A12),并且另一存储器(275)存储用于校正角度信号(DA2)的检测误差的多个校正值(A21、A22)。异常确定器(172)确定校正值(A11、A12)的异常,另一异常确定器(272)确定校正值(A21、A22)的异常。控制计算器(171、271)通过使用已确定为正常的校正值进行了校正的角度信号(DA1、DA2)执行控制计算。

技术领域

本公开内容总体上涉及检测单元。

背景技术

在相关技术中,已知用于检测转子的旋转位置的旋转角传感器。旋转角传感器具有取决于组装精度的检测误差。例如,在专利文献1中,创建了γ轴电流变为“0”的空载稳定旋转状态,并且根据γ-δ轴的电压方程计算出角误差,即组装偏移角,作为校正值。

(专利文献1)日本公开特许公报第JP-2011-135641号

旋转角传感器的校正值例如存储在存储区域等中,这会易受由于数据损坏等而导致存储的校正值异常的影响。在校正值变得异常时使用默认值继续检测的操作方案中,仍然需要高精度地组装旋转角传感器等以使得默认值具有一定程度的检测精度。此外,即使以高精度执行组装,使用默认值的检测也具有比使用校正值的检测低的检测精度。

发明内容

本公开内容的目的是提供一种即使在校正值中发生异常时也能够确保检测精度的检测单元。

本公开内容的检测单元包括检测元件、计算单元、非易失性存储器、异常确定器和控制计算器。

检测元件检测物理量的变化。计算单元根据检测元件检测到的物理量来计算检测值。非易失性存储器针对同一检测值存储了用于校正检测误差的多个校正值。异常确定器确定校正值的异常。控制计算器通过使用由已确定为正常的校正值进行了校正的检测值来执行控制计算。

由于存储了针对同一检测值的多个校正值,即使当存储的校正值的一部分由于数据损坏等而变得异常时,通过切换到另一校正值,能够确保检测精度在相同级别上。

附图说明

通过参照附图的以下详细描述,本公开内容的目的、特征和优点将变得更加明显,其中:

图1是根据第一实施方式的转向系统的示意性配置图;

图2是根据第一实施方式的驱动装置的横截面图;

图3是沿着图2中的线III-III截取的横截面图;

图4是根据第一实施方式的电子控制单元(ECU)的框图;

图5是根据第一实施方式的校正过程的流程图;

图6是根据第二实施方式的ECU的框图;

图7是根据第三实施方式的ECU的框图;

图8是根据第四实施方式的ECU的框图;以及

图9是根据第五实施方式的ECU的框图。

具体实施方式

下文中,基于附图描述根据本公开内容的检测单元。在以下多个实施方式中,使用相同的附图标记指示基本上相同的结构配置,从而简化描述。

(第一实施方式)

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