[发明专利]基于涡流和漏磁检测信号融合的缺陷类型评估方法

权利要求书

1.一种基于涡流和漏磁检测信号融合的缺陷类型评估方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，同时采用涡流和漏磁检测方法对同一样本进行检测，得到漏磁信号X＝[x₁x₂…x_i…x_n]和涡流信号Y＝[y₁ y₂…y_j…y_n]，其中，x_i表示漏磁信号第i个采样点的幅值，y_i表示涡流信号第i个采样点的幅值，n表示采样点数；

步骤二，对缺陷检测的漏磁信号进行分割并识别提取信号特征，构建缺陷漏磁信号的起点位置矩阵BX、终点位置矩阵EX和峰值位置矩阵PX；

步骤三，对缺陷检测的涡流信号进行分割并识别提取信号特征，构建缺陷涡流信号的起点位置矩阵BY、终点位置矩阵EY和峰值位置矩阵PY；

步骤四，融合涡流和漏磁的缺陷检测信号，评估缺陷类型；若某个缺陷同时被涡流和漏磁方法检测到，则认为是开口缺陷，得到开口缺陷矩阵A；若某个缺陷只被漏磁方法检测到，则认为是埋藏缺陷，得到埋藏缺陷矩阵B；若某个缺陷只被涡流方法检测到，则认为是需要进一步复核的可疑缺陷，得到可疑缺陷矩阵C。

2.如权利要求1所述的一种基于涡流和漏磁检测信号融合的缺陷类型评估方法，其特征在于，所述的步骤二具体步骤如下：

步骤2.1，创建漏磁信号分割点矩阵CX＝[i₁ i₂…i_k…i_r]，其中，i_k表示分割点在漏磁信号X中的位置，r表示分割点的个数，依次对漏磁信号X中的信号幅值进行判断，若某点幅值大于等于0且下一点幅值小于0，则将该点位置存入矩阵CX；

步骤2.2，设置k＝1，设定疑似缺陷漏磁信号判定阈值α₁及α₂，设定缺陷漏磁信号判定阈值β，创建缺陷漏磁信号峰值位置矩阵PX，创建缺陷漏磁信号起点位置矩阵BX，创建缺陷漏磁信号终点位置矩阵EX；

步骤2.3，运用差分法计算漏磁信号一阶导数信号DX＝[d₁ d₂…d_i…d_n-1]，其中d_i＝y_i+1-y_i；

步骤2.4，计算相邻分割点间漏磁信号幅值的最大值和最小值，即矩阵中的最大值和最小值，若最大值大于等于阈值α₁，且最小值小于等于阈值α₂，则认为该相邻分割点间的信号为疑似缺陷信号，否则执行步骤2.7；

步骤2.5，计算相邻分割点间漏磁信号导数信号的最大值，即矩阵中的最大值，若最大值大于等于阈值β，则认为该相邻分割点间的信号为缺陷信号，否则执行步骤2.7；

步骤2.6，将步骤2.3中求得的最大值的位置存入矩阵PX，将i_k的值存入矩阵BX，将i_k+1-1的值存入矩阵EX；

步骤2.7，k＝k+1；

步骤2.8，若k＝r，则执行步骤三，否则执行步骤2.4。