[发明专利]一种装配精度信息模型简化方法

权利要求书

1.一种装配精度信息模型简化方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、根据已知参数的要求，在三维绘图软件中构建装配体的几何模型；

步骤二、提取与产品装配精度相关的信息；

步骤三、通过装配精度信息模型表示与产品装配精度相关的信息；

步骤四、通过SWRL规则简化装配精度信息模型；

步骤五、利用本体推理功能生成装配精度信息简化语义模型；

步骤二从CAD/CAPP系统中提取与产品装配精度相关的信息，包括零件设计公差、装配工艺方案和装配顺序规划；

步骤三所述的装配精度信息模型包含几何特征、几何公差带和基准面；

装配精度信息模型的类图是从装配结构和公差信息两个角度出发的层次表达；所述的装配结构包括组件级和零件级，记录零件之间的装配约束关系；几何特征是公差信息的载体；

步骤四简化装配精度信息模型的SWRL规则包括：当各装配部件的偏差改变方向与各装配部件的偏差累积方向垂直时，此时的偏差源不影响偏差积累；当各装配部件的偏差改变方向与各装配部件的偏差累积方向不垂直时，这部分偏差源将对偏差累积产生影响，偏差改变方向与偏差累积方向之间的夹角为0°～90°，所述的偏差改变方向是各装配部件的公差所控制的几何特征的改变方向，所述的偏差累积方向是各装配部件的公差影响机械产品装配精度的方向；步骤四简化装配精度信息模型的SWRL规则还包括：当各装配部件具有两个或两个以上的几何特征时，在偏差累积过程中按照优先级顺序保留优先级级别最高的几何特征。

2.根据权利要求1所述的装配精度信息模型简化方法，其特征在于：

步骤一所述已知参数的要求包括产品要求、设计要求、几何参数以及工艺流程；产品要求包括产品的功能要求、可用性要求以及技术要求；设计要求是指对于产品几何公差以及表面粗糙度方面的精度要求；工艺流程设计包括装配顺序规划以及定位工具设计。

3.根据权利要求1所述的装配精度信息模型简化方法，其特征在于：SWRL规则为具有逻辑推理能力的描述性语言，与OWL本体语言结合，扩展和丰富本体的语义表达能力。

4.根据权利要求1所述的装配精度信息模型简化方法，其特征在于：

装配部件的几何公差包括定位公差、定向公差、跳动公差和形状公差，每个几何公差具有一个或多个类型的几何公差带；所述的优先级顺序包括：定位公差或跳动公差的优先级大于定向公差大于形状公差；当同时出现定位公差或跳动公差，若定位公差和跳动公差是同一种公差带类型，比较其公差值大小，忽略公差值小的公差。