[发明专利]非恒包络调制信号的功率测量方法、装置及电子设备

说明书

本申请公开了一种非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和存储介质。其中方法包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据采样数据，计算采样时长内的采样功率值；通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。本申请实施例可以在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。

技术领域

本申请涉及无线终端设备性能测试技术领域，尤其涉及一种非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

目前，针对非恒包络调制信号的功率测量而言，由于非恒包络调制信号在连续的周期内其峰值的幅度保持变化，短时间内测量功率会导致功率测量结果误差较大。因此，相关技术中，常用的测量方法就是通过长时间的测量来平均掉非恒包络测量带来的功率误差。但是，这种功率测量方法增加了测量时间，不适用于生产线上的快速大批量测试方式。

发明内容

本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本申请的第一个目的在于提出一种非恒包络调制信号的功率测量方法。该方法可以在很大程度上降低测量时间，同时保证测量精确性，提高功率测量效率，并降低测试成本。

本申请的第二个目的在于提出另一种非恒包络调制信号的功率测量方法。

本申请的第三个目的在于提出一种非恒包络调制信号的功率测量装置。

本申请的第四个目的在于提出另一种非恒包络调制信号的功率测量装置。

本申请的第五个目的在于提出一种电子设备。

本申请的第六个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

为达到上述目的，本申请第一方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测量方法，包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。

根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段，包括：以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段。

根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；确定所述差值总和中的最小值，并将所述差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。

根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。

根据本申请的一个实施例中，获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，包括：基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。