[发明专利]光学分析装置

权利要求书

1.一种光学分析装置，分析流过具有透光性的配管的试样，所述光学分析装置的特征在于，包括：

具有光源和聚光透镜的光源单元；

检测所述光源单元的光的光检测单元；以及

将所述光源单元和所述光检测单元支撑成可移动的支撑机构，

所述支撑机构使所述光源单元和所述光检测单元在试样测量位置和参考测量位置之间移动，所述试样测量位置是所述光检测单元借助所述配管检测所述光源单元的光的位置，所述参考测量位置是所述光检测单元不借助所述配管检测所述光源单元的光的位置。

2.根据权利要求1所述的光学分析装置，其特征在于，在所述试样测量位置上，所述光源单元的聚光透镜将所述光源的光聚光到所述配管的内部。

3.根据权利要求1所述的光学分析装置，其特征在于，所述支撑机构在不改变所述光源单元和所述光检测单元的相对位置的情况下，使其在所述试样测量位置和所述参考测量位置之间移动。

4.根据权利要求1所述的光学分析装置，其特征在于，

所述支撑机构包括：

固定设置的基座构件；

将所述光源单元和所述光检测单元连结的连结构件；以及

滑动驱动部，设置于所述基座构件，使由所述连结构件连结的所述光源单元和所述光检测单元相对于所述基座构件滑动移动。

5.根据权利要求4所述的光学分析装置，其特征在于，

所述滑动驱动部具有设置在所述基座构件和所述光检测单元之间的线性导轨，

所述光源单元和所述光检测单元被所述线性导轨支撑成能相对于所述基座构件移动。

6.根据权利要求1所述的光学分析装置，其特征在于，还具备定位部，以使所述配管的中心位于处于所述试样测量位置的所述光源单元的光轴上的方式进行定位。

7.根据权利要求6所述的光学分析装置，其特征在于，所述定位部构成为根据所述配管的直径可更换。