[发明专利]三维天线阵综合孔径辐射计快速亮温反演方法

权利要求书

1.一种三维天线阵综合孔径辐射计快速亮温反演方法，具有如下技术特征：在综合孔径辐射计SAIR的天线阵中，设置K元天线阵的三维空间排布，建立相应的xoy坐标位置关系；读取阵列参数，根据阵列配置和任意两幅相关天线的位置坐标（x_i，y_i，z_i）、（x_j，y_j，z_j），计算三维基线b_x，b_y，b_z，其中，b_x = (x_i-x_j)/λ₀，b_y = (y_i-y_j)/λ₀，b_z = (z_i-z_j)/λ₀，λ₀为中心频率对应的波长；基于冲击函数δ构造投影函数表达式：

，其中，e为自然常数，j为虚数单位，δ1；根据相关天线的输出结果，获取视场中三维视函数S(b_x，b_y，b_z)，利用S(b_x，b_y，b_z)和投影函数F(b_z)计算二维视函数S_F(b_x，b_y)，然后对二维视函数S_F(b_x，b_y)进行逆傅里叶变换IFFT，获得视场空间范围内亮温分布图像，实现综合孔径辐射计亮温反演。

2.如权利要求1所述的三维天线阵综合孔径辐射计快速亮温反演方法，其特征在于，在xoy平面投影中，x轴方向上的天线阵元数为M，y轴方向上的天线阵元数为N，且满足M+N-1 =K。

3.如权利要求1所述的三维天线阵综合孔径辐射计快速亮温反演方法，其特征在于，综合孔径辐射计任意两个天线阵元的相对位置矢量与中心频率f₀对应的波长λ₀之比是二维空间频率取样点，称为基线。

4.如权利要求1所述的三维天线阵综合孔径辐射计快速亮温反演方法，其特征在于，三维视函数S(b_x，b_y，b_z)通过投影函数F(b_z)变换为二维视函数S_F(b_x，b_y)，并且三维视函数S(b_x，b_y，b_z)与投影函数F(b_z)的乘积为：。