[发明专利]一种摄像系统的布局检测方法、布局检测装置及摄像系统

权利要求书

1.一种摄像系统的布局检测方法，所述摄像系统包括摄像头和辅助光学器件，其特征在于:所述方法包括，

计算摄像头的光路在成像面的第一截面形状的第一面积；计算辅助光学器件的光路在成像面的第二截面形状的第二面积；

计算第一截面形状和第二截面形状的交叉面积；

计算第一覆盖率和第二覆盖率，所述第一覆盖率和第二覆盖率分别为所述交叉面积与所述第一面积及所述第二面积的比例；

根据第一覆盖率和第二覆盖率的数值是否满足预定条件来确定摄像系统的布局效果，其中，所述预定条件为所述第一覆盖率和所述第二覆盖率大于对应的预设值。

2.根据权利要求1所述的摄像系统的布局检测方法，其特征在于：所述根据第一覆盖率和第二覆盖率的数值是否满足预定条件来确定摄像系统的布局效果包括：

当第一覆盖率和第二覆盖率中任何一个或两个不满足所述预定条件时，确定所述摄像系统的布局不合理。

3.根据权利要求2所述的摄像系统的布局检测方法，其特征在于：所述方法还包括，确定所述摄像系统的布局不合理时，提示调整摄像头和辅助光学器件的距离。

4.根据权利要求1所述的摄像系统的布局检测方法，其特征在于：所述方法还包括，确定所述摄像系统的布局不合理时，根据第一覆盖率和第二覆盖率的预定条件，给出摄像头和辅助光学器件之间的推荐的距离关系。

5.根据权利要求1所述的摄像系统的布局检测方法，其特征在于：所述摄像头包括广角摄像头、长焦摄像头和微距摄像头中的任一种或多种，辅助光学器件包括距离传感器、闪烁器和闪光灯中的任一种或多种。

6.根据权利要求5所述的摄像系统的布局检测方法，其特征在于：所述摄像头有一个或多个，所述辅助光学器件有一个或多个，所述根据第一覆盖率和第二覆盖率的数值是否满足预定条件来确定摄像系统的布局效果包括：

分别计算每个摄像头与各个辅助光学器件的第一覆盖率和第二覆盖率，当每个摄像头与多个辅助光学器件的至少之一的第一覆盖率和第二覆盖率满足所述预定条件时，确定所述摄像系统的布局合理。

7.根据权利要求1-6任一项所述的摄像系统的布局检测方法，其特征在于：所述预定条件为：第一覆盖率和第二覆盖率均在80％以上。

8.一种摄像系统的布局检测装置，所述摄像系统包括摄像头和辅助光学器件，其特征在于：所述布局检测装置包括，

截面形状面积计算模块，用于计算摄像头和辅助光学器件的光路在成像面的第一截面形状和第二截面形状的面积；

交叉面积计算模块，用于计算第一截面形状和第二截面形状的交叉面积；

覆盖率计算模块，用于计算第一覆盖率和第二覆盖率，所述第一覆盖率和第二覆盖率分别为所述交叉面积与所述第一面积及所述第二面积的比例；

布局效果判断模块，用于根据第一覆盖率和第二覆盖率的数值是否满足预定调节来确定摄像系统的布局效果，其中，所述预定条件为所述第一覆盖率和所述第二覆盖率大于对应的预设值。

9.根据权利要求8所述的摄像系统的布局检测装置，其特征在于：所述布局检测装置还包括提示模块和/或推荐模块，其中，

提示模块用于当第一覆盖率和第二覆盖率中至少一个不满足所述预定条件时提示调整摄像头和辅助光学器件的距离；

推荐模块用于根据第一覆盖率和第二覆盖率的预定条件，给出摄像头和辅助光学器件之间的推荐的距离关系。

10.一种电子设备，其包括处理器，其特征在于：所述处理器执行权利要求1-7任一项所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于：其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述的方法。

12.一种摄像系统，包括摄像头和辅助光学器件，其特征在于：

其中所述摄像头包括广角摄像头、长焦摄像头和微距摄像头三者中的至少一个，所述辅助光学器件包括距离传感器、闪烁器和闪光灯三者中的至少一个；

其中，至少所述广角摄像头光路在成像面的截面形状与所述闪烁器和闪光灯两者中的至少一个的光路在成像面的截面形状之间的交叉面积，相比于广角摄像头光路在成像面的截面形状的面积以及所述闪烁器和闪光灯两者中的至少一个的光路在成像面的截面形状的面积的比率分别满足80％以上；

至少所述长焦摄像头光路在成像面的截面形状与所述距离传感器的光路在成像面的截面形状之间的交叉面积，相比于长焦摄像头光路在成像面的截面形状的面积以及所述距离传感器的光路在成像面的截面形状的面积的比率分别满足80％以上。