[发明专利]一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法有效

专利信息
申请号: 202010245672.4 申请日: 2020-03-31
公开(公告)号: CN111398324B 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 阳卓岑;马健;温书豪;赖力鹏 申请(专利权)人: 深圳晶泰科技有限公司
主分类号: G01N23/2055 分类号: G01N23/2055
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人: 胡吉科
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 粉末 射线 衍射 图谱 定标 方法
【说明书】:

发明提供一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法,包括以下步骤:(1)对原始衍射数据进行插值平滑处理;(2)选定数据处理窗口,寻峰算法将对窗口范围内的数据进行寻峰计算;(3)对划定的数据处理窗口内的数据计算参数,识别并记录出该窗口内可能的衍射峰位置;(4)对选出的衍射峰位置进行过滤;(5)将选定的数据处理窗口进行移动,选定新的数据处理窗口位置,重复(3)—(4)步骤,识别并记录新得到的衍射峰位置;(6)将所有获取到的衍射峰位置进行聚类,距离过近的衍射峰位置合并为同一衍射峰。本发明能够对各种情况的衍射峰保持较高的识别率,过滤错误的衍射峰,显著减少标定缺失/寻峰错误的情况。

技术领域

本发明属于物相确定技术领域,具体涉及一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法。

背景技术

粉末X射线衍射技术是分析固态材料物相的重要技术,粉末X射线衍射图谱被认为是某一种特定晶体材料的“指纹”,可以提供相关材料的相、晶型及结晶度等相关信息。在药物的研发及生产过程中,往往需要对各个阶段的药物晶体粉末进行粉末X射线衍射分析,通过对比分析衍射图谱的形貌,衍射峰的位置及衍射峰的强度,可以定性的判断药物晶体粉末是否为预期的晶型。粉末X射线衍射图谱有两个主要参数:衍射峰的位置、衍射峰的强度。

其中,衍射峰的位置相较于衍射峰强度,在晶型分析确定的角度上更为重要。因为两个相同类型的晶体,其粉末X射线衍射图谱的每个峰的强度可能会受探测器误差,环境温度等方面出现比较明显的波动,但每个衍射峰的位置基本不受客观条件的影响。同时,由于衍射图谱中每一个衍射峰位置都对应着一个确定的衍射峰强度,确定了衍射峰位置,其对应的衍射峰强度也随之确定。所以,确定图谱的衍射峰位置是粉末X射线衍射分析的重要分析目标之一。

部分材料科学分析软件提供了简单的衍射峰标定(即寻峰)功能,但它们应用在粉末X射线衍射图谱的分析,特别是通过衍射图谱对小分子药物进行晶型分析时,均存在不同程度的如下问题:

1.衍射峰数量较多时,识别精度差;

2.对强度较弱的衍射峰识别精度差;

3.对距离相对较近的衍射峰的标定精度差,甚至标定缺失;

4.对于半峰宽较宽的衍射图谱,衍射峰标定精度差,容易出现标定缺失;

5.对于复杂的峰型条件,如图谱中有半峰宽较大的若干个峰距离较近时,非常容易出现标定缺失。

6.在衍射图谱本身质量较差,如仪器噪声较大,粉末晶体结晶度不佳等情况时,识别精度差,容易出现标定错误及漏标定情况。

发明内容

针对上述技术问题,本发明提供一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法,能够精确地给出合理的衍射峰位置;其输入的衍射数据,可以是未进行去本底、去噪声处理的原始衍射数据,也可以是进行过去本底,降噪处理的衍射数据。

衍射峰标定,即寻峰。对于输入的衍射峰数据(即X轴为2theta值,Y轴为峰强度的数据),本方法从算法角度对衍射数据进行分析,不依赖特定的硬件环境、操作系统、编程语言实现。

所采用具体的技术方案为:

一种粉末X射线衍射图谱的衍射峰定标方法,包括以下步骤:

(1)对原始衍射数据进行插值平滑处理,将2theta值的最小间隔固定为某一较小数值,通常小于0.1 2theta。

(2)选定数据处理窗口,寻峰算法将对窗口范围内的数据进行寻峰计算;

(3)对步骤(2)划定的数据处理窗口内的数据计算参数,综合所述的参数进行分析、计算与判断,识别并记录出该窗口内可能的衍射峰位置;

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