[发明专利]一种电流感测放大器芯片测试装置

说明书

一种电流感测放大器芯片测试装置，通过设置测试座、拨码开关组和测试电路的组合，能够利用拨码开关实现不同测试电路的搭建，以测试电流感测放大器的不同参数，减少或避免反复繁琐的焊接操作，从而有利于提高测试效率。

技术领域

本发明涉及电流感测放大器芯片测试技术，特别是一种电流感测放大器芯片测试装置，通过设置测试座、拨码开关组和测试电路的组合，能够利用拨码开关实现不同测试电路的搭建，以测试电流感测放大器的不同参数，减少或避免反复繁琐的焊接操作，从而有利于提高测试效率。

背景技术

电流感测放大器芯片的多项参数都需要进行测试，例如，静态电流参数Iq，失调电压参数Vos(offset voltage)或电源抑制比PSRR参数(PSRR：Power Supply RejectionRatio)或共模抑制比CMRR参数(CMRR：Common Mode Rejection Ratio)，增益参数Gain，输入偏置电流参数Ib或输入失调电流参数Ios等。传统测试电流感测放大器芯片的方法是将芯片及测试电路焊接到电路板上，测完一个参数改测另外的参数时就需要重新焊接搭建另外的测试电路，这就导致之前的测试电路被覆盖，想要再测之前的参数还需要重新焊接。工作内容反复繁琐，操作既不方便又不节省时间。另外，传统的电路板在测试多颗电流感测放大器芯片，需要将当前芯片取下后再将外一颗芯片焊上，重复操作几次后特别容易损伤测试板上的焊盘，焊盘损坏后电路板无法再用从而浪费实验耗材。本发明人认为，如果通过设置测试座、拨码开关组和测试电路的组合，利用拨码开关实现不同测试电路的搭建，以测试电流感测放大器的不同参数，就能够减少或避免反复繁琐的焊接操作，从而有利于提高测试效率。有鉴于此，本发明人完成了本发明。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的缺陷或不足，提供一种电流感测放大器芯片测试装置，通过设置测试座、拨码开关组和测试电路的组合，能够利用拨码开关实现不同测试电路的搭建，以测试电流感测放大器的不同参数，减少或避免反复繁琐的焊接操作，从而有利于提高测试效率。

本发明的技术方案如下：

一种电流感测放大器芯片测试装置，其特征在于，包括测试座，所述测试座具有与被测电流感测放大器芯片引脚相对应的若干引脚接入点，所述若干引脚接入点中包括正向输入端引脚接入点、负向输入端引脚接入点和被测输出电压端引脚接入点，所述正向输入端引脚接入点和负向输入端引脚接入点均通过第一拨码开关组连接第一电源板，所述正向输入端引脚接入点和负向输入端引脚接入点均通过第二拨码开关组连接第一部分测试电路，所述被测输出电压端引脚接入点通过第三拨码开关组连接第二部分测试电路。

所述若干引脚接入点中包括第一至第六引脚接入点，其中第一引脚接入点连接参考电压端，第二引脚接入点连接负电源端，第三引脚接入点通过第十一电容连接接地端，第四引脚接入点为所述正向输入端引脚接入点，第五引脚接入点为所述负向输入端引脚接入点，第六引脚接入点为所述被测输出电压端引脚接入点，所述第二引脚接入点通过第十二电容连接接地端。

所述第一电源板包括+10V端J1-1，-10V端J1-2，设定电源V_Iset端J1-3，第二输入电压VIN2端J1-4，第一输入电压VIN1端J1-5，电源电压VCC端J1-6，负电源VEE端J1-7，正向输入电压IN+端J1-8，负向输入电压IN-端J1-9，参考电压REF端J1-10。