[发明专利]一种基于区域的卷积神经网络物体表面缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202010247683.6 申请日: 2020-04-01
公开(公告)号: CN111461120A 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 李雪;李锐;金长新 申请(专利权)人: 济南浪潮高新科技投资发展有限公司
主分类号: G06K9/32 分类号: G06K9/32;G06K9/62;G06N3/04;G06T7/00
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 阚恭勇
地址: 250100 山东省济南市*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 区域 卷积 神经网络 物体 表面 缺陷 检测 方法
【说明书】:

发明提供一种基于区域的卷积神经网络物体表面缺陷检测方法,涉及检测技术领域,通过标记的样本进行训练,使模型具备初步的检测能力,然后利用模型对剩余未标记样本进行检测,得到检测后标记的图像数据,筛选结果文件中的数据用于扩充训练集,并手工标记其中检测错误的图像数据,用于再次训练,循环该过程,直到得到足够的标记数据集。有效提了高检测效率。

技术领域

本发明涉及检测技术,尤其涉及一种基于区域的卷积神经网络物体表面缺陷检测方法。

背景技术

传统的检测方法通常利用机器学习的方式,通过提取特征,分类器分类完成检测。这种方式受特征的选择影响较大,缺陷种类繁多,人工设计特征存在各种各样的局限性,并不能充分表示物体缺陷的特性,且分类器的选择也至关重要,会直接影响检测的精度、速度等,不能达到理想的检测效果。

深度学习建立在传统机器学习基础上,其中关键是大量数据的学习和反复迭代训练。通常利用深度学习中的目标检测任务来实现物体的缺陷检测,相较于传统的目标检测任务,缺陷检测任务的难点在于目标过小,难以检测,目标种类繁多,难以学习,数据来源有限,采集困难等几个问题。

目标检测任务中存在两种主流的检测模型,分别是one stage detector,如SSD、YOLO等,和two stage detector,如faster RCNN以及相关改进模型。两种模型均采用anchor推荐机制,设置IOU阈值筛选正负样本,对正样本的anchor boxes进行位置编码,从而得到模型认为正确的anchor boxes。其中存在的问题是,前景anchor和背景anchor类别严重不平衡,实际问题中,正样本要远远少于负样本,从而给anchor boxes推荐和分类问题带来困难。

发明内容

为了解决以上技术问题,本发明提出了一种基于区域的卷积神经网络物体表面缺陷检测方法,在检测性能上产生一致和显著的提高,有效提高检测效率,替代人工检测和传统检测方法。

本发明提出半监督学习方法,得到标注数据,扩大数据集规模,结合OHEM(在线困难样本挖掘)提高对小目标检测的精度的目标检测算法,实现理想的自动化缺陷检测方法,可以有效提高检验检测效率,为完全代替人工作业奠定基础。

本发明利用半监督学习方式,基于正样本(即缺陷样本)训练目标检测模型,其目的是通过标记较少的样本进行训练,使模型具备初步的检测能力,然后利用模型对剩余大量未标记样本(可采集,也可人工生成)进行检测,得到检测后标记的图像数据,筛选结果文件中标记理想的数据用于扩充训练集,并手工标记其中检测错误的图像数据,用于再次训练,微调模型参数,提高模型泛化性,循环该过程,直到得到足够多的标记数据集。这种方法可以有效减少标记数据的时间,且有效避免人工标记错误的情况,大大提高数据标记的效率。

目标检测任务中存在两种主流的检测模型,分别是one stage detector,如SSD、YOLO等,和two stage detector,如faster RCNN以及相关改进模型。两种模型均采用anchor推荐机制,设置IOU阈值筛选正负样本,对正样本的anchor boxes进行位置编码,从而得到模型认为正确的anchor boxes。其中存在的问题是,前景anchor和背景anchor类别严重不平衡,实际问题中,正样本要远远少于负样本,从而给anchor boxes推荐和分类问题带来困难。

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